公开(公告)号：CN106405256B

公开(公告)日：2019-02-19

申请号：CN201610752000.6

申请日：2016-08-26

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘灵鸽 ,  赵兵 ,  张启涛 ,  李文龙 ,  王宇 ,  马玉丰 ,  严瑾

IPC: G01R29/10

Abstract: 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。

公开(公告)号：CN106405256A

公开(公告)日：2017-02-15

申请号：CN201610752000.6

申请日：2016-08-26

Applicant: 西安空间无线电技术研究所

Inventor： 刘灵鸽 ,  赵兵 ,  张启涛 ,  李文龙 ,  王宇 ,  马玉丰 ,  严瑾

IPC: G01R29/10

CPC classification number: G01R29/10

Abstract: 一种平面近场暗室散射的测试与补偿方法，本发明采用一种T型导轨，通过对扫描面区域内暗室散射的检测，得到该扫描区域的暗室散射场分布。利用算法补偿该区域内天线测试由于暗室散射带来的影响。本发明与传统暗室散射测试方法相比较，更好的检测指定区域内暗室散射分布情况，并且利用算法补偿暗室散射对于天线测试的影响。