一种基于近场采样多极子权值展开的辐射近场源构建方法

    公开(公告)号:CN118227931A

    公开(公告)日:2024-06-21

    申请号:CN202410402706.4

    申请日:2024-04-03

    Abstract: 本发明涉及一种基于近场采样多极子权值展开的辐射近场源构建方法,包括:对天线进行多极子平面波展开,确定多极子展开波束权值的方向;根据天线进行多极子平面波展开的对角转移算子和天线近场电场值构建天线的近场测量方程组,并求解近场测量方程组,得到多极子展开波束权值的幅度;对载体平台进行网格剖分,生成若干场点及每个场点位置坐标;利用每个场点位置坐标、多极子展开波束权值的方向和多极子展开波束权值的幅度计算空间中每个场点的辐射特性;将每个场点的辐射特性填入矩量法矩阵右端的电压激励向量;利用多层快速多极子整体求解矩量法矩阵,得到目标表面电流分布系数。该方法采样方式灵活,计算场点时所需时间较少,有效角域更大。

    基于多约束凸优化的阵列天线方向图优化方法

    公开(公告)号:CN117592282A

    公开(公告)日:2024-02-23

    申请号:CN202311587482.0

    申请日:2023-11-27

    Abstract: 本发明提出了一种基于多约束凸优化的阵列天线方向图优化方法,实现步骤为:进行全波仿真得到阵列天线的方向矢量;初始化目标方向和副瓣电平等参数;构建多约束凸优化问题并对其进行求解以获取激励向量;对波束宽度进行更新并重新求解凸优化问题;获取优化后的激励向量并计算阵列天线方向图。本发明通过多种约束构建阵列天线方向图的凸优化问题,避免了副瓣电平较低时阵列天线方向图的最大辐射方向偏离目标方向的缺陷;且通过对最大值或最小值的更新实现对波束宽度取值范围的更新,在初始化副瓣电平过低时,通过减小波束宽度,最终优化得到阵列天线所能实现的最低副瓣电平下的阵列天线方向图,避免了方向图的畸变,并提高了优化效率。

    一种基于电场分布的天线多极子权值展开近场测量方法

    公开(公告)号:CN118330330A

    公开(公告)日:2024-07-12

    申请号:CN202410329023.0

    申请日:2024-03-21

    Abstract: 本发明公开了一种基于电场分布的天线多极子权值展开近场测量方法,包括:对待测天线进行多极子平面波展开,得到一组多极子平面波权值各自的方向;进行平面近场测量获取一组近场测量数据;根据其中采样点的电场幅值确定采样点类别;类别包括强点、次强点和弱点;针对每个强点、次强点,依据对应的加密方式在自身区域内增加新的采样点,使采样点总数达到多极子平面波展开数量;根据所有新增采样点的位置坐标对待测天线进行平面近场测量;基于两次得到的近场测量数据及一组多极子平面波权值各自的方向构建测量矩阵方程并求解,确定出一组多极子平面波权值,从而计算空间中任意一点的辐射特性。本发明能提升测量效率,保证测量准确性。

Patent Agency Ranking