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公开(公告)号:CN114638190A
公开(公告)日:2022-06-17
申请号:CN202210311336.4
申请日:2022-03-28
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/392 , G06F30/398 , G06F30/23 , G06F113/18 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种封装应力均方差最小化的阵列焊点排布设计方法,包括:建立阵列焊点及封装体参数化表征模型,建立温度循环载荷下焊点及封装结构有限元模型,获取各阵列焊点最大应力结果并求解其均方差;确定应力均方差阈值,求解需更新的焊点死单元数;按序排序阵列焊点最大应力结果,设置焊点死单元;更新有限元模型,再次仿真获取阵列焊点最大应力结果,求解应力均方差;判断阵列焊点最大应力均方差值是否满足迭代终止条件。本方法通过确定阵列焊点最大应力均方差阈值,实现以应力均方差最小化为目标的阵列焊点排布设计方法。利用该阵列焊点排布设计方法可以改善传统焊点布局的盲目性、减少焊点个数、提高焊点加工成品率、降低制造生产成本。
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公开(公告)号:CN114638190B
公开(公告)日:2024-09-24
申请号:CN202210311336.4
申请日:2022-03-28
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/392 , G06F30/398 , G06F30/23 , G06F113/18 , G06F119/08 , G06F119/14
Abstract: 本发明公开了一种封装应力均方差最小化的阵列焊点排布设计方法,包括:建立阵列焊点及封装体参数化表征模型,建立温度循环载荷下焊点及封装结构有限元模型,获取各阵列焊点最大应力结果并求解其均方差;确定应力均方差阈值,求解需更新的焊点死单元数;按序排序阵列焊点最大应力结果,设置焊点死单元;更新有限元模型,再次仿真获取阵列焊点最大应力结果,求解应力均方差;判断阵列焊点最大应力均方差值是否满足迭代终止条件。本方法通过确定阵列焊点最大应力均方差阈值,实现以应力均方差最小化为目标的阵列焊点排布设计方法。利用该阵列焊点排布设计方法可以改善传统焊点布局的盲目性、减少焊点个数、提高焊点加工成品率、降低制造生产成本。
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