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公开(公告)号:CN119540939A
公开(公告)日:2025-02-28
申请号:CN202411596258.2
申请日:2024-11-11
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06V20/64 , G06V10/25 , G06V10/26 , G06V10/44 , G06V10/46 , G06V10/766 , G06V10/82 , G06T3/04 , G06T3/4053 , G06T3/4046 , G06T3/4007 , G06N3/0455 , G06N3/0475 , G06N3/0464 , G06N3/094
Abstract: 本发明公开了一种多目标场景下集成成像3D物体显著性检测方法,所述方法包括微元超分辨率重建、显著性检测、像素位置划分和三维重建四部分。微元超分辨率重建部分基于微元思想分割微图像阵列并进行超分辨率重建;显著性检测部分根据边缘感知原理预测显著区域,并利用残差模块优化图像细节,提高显著性检测准确度;像素位置划分部分利用锚点检测方法实现不同物体的分割,得到单个目标物体的显著微图像阵列并对其进行放大;三维重建部分通过集成成像显示装置重建出单个目标物体的立体显著图像。所述方法不仅能够获得多目标场景下单个目标物体的立体显著图像,避免多物体造成的注意力分散和视觉混淆,还提高了显著性检测的准确度。
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公开(公告)号:CN119515824A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411578254.1
申请日:2024-11-07
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06T7/00 , G06T5/77 , G06T7/90 , G06T5/60 , G06T15/04 , G06T17/00 , G06N3/0455 , G06N3/0464 , G06N3/0475 , G06N3/094
Abstract: 本发明提出一种具有纹理特征的高精度集成成像3D显著目标检测方法,该方法包括四维光场数据的获取、微图像阵列的高精度显著目标检测、显著微图像阵列的纹理特征补偿与具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建四个过程,该方法将采集的四维光场数据生成微图像阵列,将其作为高精度显著目标检测的输入,通过重组折叠操作与循环编码译码,充分挖掘跨区域全局显著性特征,生成高精度的显著微图像阵列,再利用分层式纹理特征补偿方法,分别还原与生成区域显著微图像阵列和边缘显著微图像阵列的纹理特征,最终借助透镜阵列对具有纹理特征的高精度显著微图像阵列三维重建,有效简化了后续计算机视觉任务,并对显著目标提供精细彩色的三维显示。
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公开(公告)号:CN119399377A
公开(公告)日:2025-02-07
申请号:CN202411503973.7
申请日:2024-10-25
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06T17/00 , G06T5/80 , G06N3/0464 , G06N3/0475 , G06N3/094
Abstract: 本发明提出一种精确消除体素扩散的高分辨率集成成像全局校正方法,该方法包括体素扩散的精确表征、像素重排预处理、体素扩散的全局优化与精准三维重建四个过程,该方法将同时存在多种旋转误差的透镜阵列作为整体,计算重建光线的一般化方程,通过拆分体素扩散多边形,得到精确的体素扩散大小,再利用像素重排预处理方法,得到预校正微图像阵列,将其作为像素到像素的条件生成式对抗网络中判别器的输入,与生成器的输出进行比较,直到两者匹配得到校正微图像阵列,最终借助集成成像3D显示系统对校正微图像阵列进行三维重建,有效简化了体素扩散的校正流程,并在提升整体分辨率的同时兼顾细节特征的恢复。
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