用于系外行星探测的合成孔径光学成像试验系统

    公开(公告)号:CN109946712A

    公开(公告)日:2019-06-28

    申请号:CN201910248547.6

    申请日:2019-03-29

    IPC分类号: G01S17/89

    摘要: 本发明公开了一种用于系外行星探测的光学合成孔径成像试验系统,包括:恒星-行星光源模拟器输出具有一定角度差异、亮度不同的两束平行光;可控孔径阵列包括多个单独控制的子孔径;聚焦成像模块汇聚可控孔径阵列输出的光信号,并发送至显微成像模块;显微成像模块产生并放大干涉条纹信号,并发送至数据处理模块;数据处理模块记录干涉条纹,并控制可控孔径阵列执行下一次子孔径组合的通与断,以模拟基线变化,当基线变化足够进行成像的UV覆盖后,根据记录的干涉条纹进行成像解算。本发明利用可控孔径阵列引入等效的子孔径空间运动,有效降低了系统模拟的复杂度和成本,同时避免了多镜系统中因面型差异引入的额外误差。

    用于系外行星探测的合成孔径光学成像试验系统

    公开(公告)号:CN109946712B

    公开(公告)日:2020-08-28

    申请号:CN201910248547.6

    申请日:2019-03-29

    IPC分类号: G01S17/90

    摘要: 本发明公开了一种用于系外行星探测的光学合成孔径成像试验系统,包括:恒星‑行星光源模拟器输出具有一定角度差异、亮度不同的两束平行光;可控孔径阵列包括多个单独控制的子孔径;聚焦成像模块汇聚可控孔径阵列输出的光信号,并发送至显微成像模块;显微成像模块产生并放大干涉条纹信号,并发送至数据处理模块;数据处理模块记录干涉条纹,并控制可控孔径阵列执行下一次子孔径组合的通与断,以模拟基线变化,当基线变化足够进行成像的UV覆盖后,根据记录的干涉条纹进行成像解算。本发明利用可控孔径阵列引入等效的子孔径空间运动,有效降低了系统模拟的复杂度和成本,同时避免了多镜系统中因面型差异引入的额外误差。