公开(公告)号：CN116482682A

公开(公告)日：2023-07-25

申请号：CN202310410341.5

申请日：2023-04-17

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 张依轩 ,  毕志超 ,  王楠 ,  杨玉禾 ,  张玉

IPC: G01S13/89 ,  G01S7/41

Abstract: 一种基于ISAR成像和序列CLEAN的RCS近场测量方法，其步骤为：获取待测目标和定标体补偿后的近场后向散射场；采用下述BP成像算法中的公式，对补偿后的近场后向散射场进行ISAR成像；利用序列CLEAN算法分别提取待测目标和定标体的ISAR图像的散射点；计算ISAR图像的阈值比较值d0；判断阈值比较值是否大于或等于终止阈值H；根据所提取散射点的位置和复幅值，计算待测目标的远场后向散射场；根据待测目标的远场后向散射场，通过定标操作得到待测目标的远场绝对RCS。本发明消除了错误提取伪散射点导致测量精度降低的问题，提高了测量精度。

公开(公告)号：CN118330330A

公开(公告)日：2024-07-12

申请号：CN202410329023.0

申请日：2024-03-21

Applicant: 西安电子科技大学杭州研究院

Inventor： 张依轩 ,  杨玉禾 ,  毕志超 ,  赵致辉 ,  赵勋旺 ,  张玉

IPC: G01R29/10 ,  G01R29/08 ,  G01R29/14

Abstract: 本发明公开了一种基于电场分布的天线多极子权值展开近场测量方法，包括：对待测天线进行多极子平面波展开，得到一组多极子平面波权值各自的方向；进行平面近场测量获取一组近场测量数据；根据其中采样点的电场幅值确定采样点类别；类别包括强点、次强点和弱点；针对每个强点、次强点，依据对应的加密方式在自身区域内增加新的采样点，使采样点总数达到多极子平面波展开数量；根据所有新增采样点的位置坐标对待测天线进行平面近场测量；基于两次得到的近场测量数据及一组多极子平面波权值各自的方向构建测量矩阵方程并求解，确定出一组多极子平面波权值，从而计算空间中任意一点的辐射特性。本发明能提升测量效率，保证测量准确性。

公开(公告)号：CN117494447A

公开(公告)日：2024-02-02

申请号：CN202311499102.8

申请日：2023-11-10

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 赵勋旺 ,  杨玉禾 ,  毕志超 ,  殷磊 ,  张依轩 ,  林中朝 ,  张玉

IPC: G06F30/20 ,  G06F17/11

Abstract: 本发明公开了一种基于波谱展开和计算电磁算法的辐射近场源构建方法，结合近场测量与计算电磁方法，将谱域信息矩阵的修正和等效源模型的构建分开处理。通过利用提取近场电场参数的方法，将目标体的散射场的求解问题转化为目标体表面离散点源的问题，由点源再求解场值，构建出辐射近场源。从而将物理空间问题转化为数值空间问题，通过仿真软件建模载体模型，将近场源模型与载体模型进行整体电磁求解，实现真实测量问题在数值空间中的映射，从测量的角度进一步提升仿真认知的能力。