一种GaN基准垂直结势垒肖特基二极管及其制备方法

    公开(公告)号:CN116960190A

    公开(公告)日:2023-10-27

    申请号:CN202310967926.7

    申请日:2023-08-02

    Abstract: 本发明公开了一种GaN基准垂直结势垒肖特基二极管及其制备方法,该二极管包括:衬底层、缓冲层、N+传输层、N‑漂移层、阴极、阳极凹槽、P+二次外延层、介质层和阳极。本发明所制备的阳极肖特基金属深入阳极凹槽中并被P+二次外延层包围,竖状阳极肖特基金属可以有效分散器件反向偏置时的电场,提高二极管的反向耐压能力,减小反向漏电;N‑漂移层的斜面可以有效分散器件反向偏置时阳极附近的电场,增强二极管的反向耐压能力;P+二次外延层与介质层形成PiN结构,具有开启电压低、反向漏电小、耐压高和开关速率高的优点的同时,介质层可以减少漏电通路,进一步降低器件的反向漏电。

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