公开(公告)号：CN118212279A

公开(公告)日：2024-06-18

申请号：CN202410202081.7

申请日：2024-02-23

Applicant: 西安电子科技大学

Inventor： 杨志伟 ,  杨安东 ,  梁庚辰 ,  刘磊 ,  刘杰 ,  李晓蕊 ,  赵梁博 ,  魏华 ,  张箭 ,  张越 ,  党锋

IPC: G06T7/35 ,  G06T7/37 ,  G06T7/33 ,  G06T7/45

Abstract: 本发明公开了一种优选区域的高斯基双边指数函数逼近的精细配准方法及设备，方法包括：获取待配准复图像和参考复图像；根据待配准复图像或参考复图像的信噪比和纹理特征，分别从待配准复图像和参考复图像中选取高信噪比和纹理特征丰富的两个同为幅度图像的区域图像；基于这两个区域图像，利用对数高斯函数拟合的配准方法，对待配准复图像粗配准，得到粗配准图像；利用参考复图像与粗配准图像间的地形干涉相位对粗配准图像补偿得到补偿图像；从补偿图像和参考复图像中选择高相干性的两个同为复图像的区域图像，基于这两个区域图像，利用高斯基双边指数函数逼近的方法，对粗配准图像进行精配准，得到精配准后的图像。本发明能够提升图像配准精度。