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公开(公告)号：CN116681020A
公开(公告)日：2023-09-01
申请号：CN202310796000.6
申请日：2023-06-30
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G06F30/38
Abstract: 本发明提供了一种基于单粒子效应仿真的多点故障注入方法，用于解决传统的单点故障注入方法无法在有效时间内获得足够仿真数据，以及多点故障注入方法需要保证每一组的故障数量均相同的技术问题。本发明提供的一种基于单粒子效应仿真的多点故障注入方法，在基于故障概率选择故障注入数量的同时，优化了分组方法，通过特定的分组查找方式确定单个故障是否导致错误，解决了不能判断单个故障是否导致错误的问题，在保证准确率的前提下，减小了仿真次数；同时优化的分组方法考虑了故障注入数量无法被均分的情况，在选择故障注入数量时，不需要保证每组的故障数量均相同，使用简单方便，适用性强，可以广泛应用在各种规模的宇航处理器中。
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