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公开(公告)号：CN115630172A
公开(公告)日：2023-01-20
申请号：CN202211663436.X
申请日：2022-12-23
Applicant: 中国航空油料集团有限公司 , 西安电子科技大学
Abstract: 本公开实施例涉及数字主线技术领域，提供一种针对流程行业的数字主线构建方法及系统，方法包括：获取流程行业关键设备的三维模型，并基于三维模型，构建关键设备对应的知识图谱；采用预设的数据描述格式，分别对知识图谱以及三维模型对应的实际性能特征数据进行统一描述，并基于统一描述后的实际性能特征数据构建数字主线数据库；将统一描述后的实际性能特征数据与知识图谱进行关联，得到流程行业对应的数字主线。本公开实施例可对流程行业中各关键设备的多阶段过程数据演化模型进行统一管理，为关键设备的智能诊断、智能运维提供权威、可信的数据服务，为流程行业的数字孪生提供支持。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN101477065B
公开(公告)日：2011-02-09
申请号：CN200910020850.7
申请日：2009-01-08
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01N21/956
Abstract: 本发明公开了一种对集成电路缺陷进行分类的方法。其步骤为，首先计算缺陷的灰度值MA，并根据灰度值将缺陷分为多余物缺陷和丢失物；再次对没有缺陷的标准图像进行二值化处理；然后对多余物缺陷和丢失物缺陷同时进行3×3全1矩阵的膨胀运算，并利用标准图像二值化的结果，计算不同缺陷在陷膨胀运算后的边界值变化次数；最后根据缺陷的边界值变化次数对不同缺陷进行细分，即对于丢失物缺陷，当边界值变化次数小于等于2时，为互连线上的孔洞缺陷，否则为断路缺陷；对于多余物缺陷，当边界值变化次数大于2时，为短路缺陷，否则为背景中的多余物缺陷。本发明具有分类方法简单、速度快、正确率高，能够在集成电路和电路板产品的各个时期对缺陷分类。
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公开(公告)号：CN119620592A
公开(公告)日：2025-03-14
申请号：CN202411754324.4
申请日：2024-12-02
Applicant: 中国航空油料集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 北京中航油工程建设有限公司
IPC: G05B11/42
Abstract: 本发明提供一种机坪供油系统的智能压力优化及控制参数的确定方法和装置，涉及机坪供油系统控制技术领域。该方法包括：建立第一目标模型；第一目标模型用于最小化机坪供油系统的能耗；根据第一目标模型，确定机坪供油系统的目标出口压力；目标出口压力表示最小化机坪供油系统的能耗时所对应的机坪供油系统的出口压力；根据机坪供油系统的目标出口压力，确定机坪供油系统对应的控制参数。上述实施例的方法，实现了控制参数的准确确定，确保了供油系统的能耗最优化和出口压力最优化，降低了爆管、泄漏和设备损坏风险。
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公开(公告)号：CN117575578B
公开(公告)日：2024-06-21
申请号：CN202410055908.6
申请日：2024-01-15
Applicant: 中国航空油料集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 中国航空油料有限责任公司西安分公司
IPC: G06Q10/20 , G06Q10/063 , G06Q10/04 , G06F17/18
Abstract: 本申请涉及装备预测性维修技术领域，公开了一种基于机械设备剩余寿命的不完全维修决策优化方法及装置，所述方法使用最小二乘法对设备运行效率的退化数据进行拟合威布尔分布，得到设备寿命分布的尺度参数与形状参数；引入已使用寿命参数以及改善因子构建二元维修‑更换维修策略模型，通过该模型确定最佳维修次数、最佳维修间隔以及单位时间最小成本率。其中，已使用寿命参数考虑到设备在不同服役期间仍可以制定对应的维修策略；改善因子可以根据设备维修的实际情况，动态的调节各参数，提升维修决策的准确度。基于上述可以制定相对应的最优维修策略，以确保设备正常运行，避免生产中断和生产效率下降，提升了维修策略的准确度以及适用范围。
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公开(公告)号：CN117575578A
公开(公告)日：2024-02-20
申请号：CN202410055908.6
申请日：2024-01-15
Applicant: 中国航空油料集团有限公司 , 西安电子科技大学 , 中国航空油料有限责任公司西安分公司
IPC: G06Q10/20 , G06Q10/063 , G06Q10/04 , G06F17/18
Abstract: 本申请涉及装备预测性维修技术领域，公开了一种基于机械设备剩余寿命的不完全维修决策优化方法及装置，所述方法使用最小二乘法对设备运行效率的退化数据进行拟合威布尔分布，得到设备寿命分布的尺度参数与形状参数；引入已使用寿命参数以及改善因子构建二元维修‑更换维修策略模型，通过该模型确定最佳维修次数、最佳维修间隔以及单位时间最小成本率。其中，已使用寿命参数考虑到设备在不同服役期间仍可以制定对应的维修策略；改善因子可以根据设备维修的实际情况，动态的调节各参数，提升维修决策的准确度。基于上述可以制定相对应的最优维修策略，以确保设备正常运行，避免生产中断和生产效率下降，提升了维修策略的准确度以及适用范围。
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公开(公告)号：CN101477065A
公开(公告)日：2009-07-08
申请号：CN200910020850.7
申请日：2009-01-08
Applicant: 西安电子科技大学
IPC: G01N21/956
Abstract: 本发明公开了一种对集成电路缺陷进行分类的方法。其步骤为，首先计算缺陷的灰度值MA，并根据灰度值将缺陷分为多余物缺陷和丢失物；再次对没有缺陷的标准图像进行二值化处理；然后对多余物缺陷和丢失物缺陷同时进行3×3全1矩阵的膨胀运算，并利用标准图像二值化的结果，计算不同缺陷在陷膨胀运算后的边界值变化次数；最后根据缺陷的边界值变化次数对不同缺陷进行细分，即对于丢失物缺陷，当边界值变化次数小于等于2时，为互连线上的孔洞缺陷，否则为断路缺陷；对于多余物缺陷，当边界值变化次数大于2时，为短路缺陷，否则为背景中的多余物缺陷。本发明具有分类方法简单、速度快、正确率高，能够在集成电路和电路板产品的各个时期对缺陷分类。
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