公开(公告)号：CN118090790A

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202410215665.8

申请日：2024-02-27

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 温广瑞 ,  齐晓纲 ,  黄博洋 ,  李良博 ,  张源麟 ,  张占玲 ,  薛鑫海 ,  雷子豪 ,  苏宇 ,  张志芬 ,  聂祥樊

IPC: G01N23/207 ,  G01L1/25 ,  G01L5/00 ,  G06N3/006

Abstract: 本发明公开了一种单晶材料的极图定向与极点标定方法、装置和设备，包括：利用局部极值过滤算法对单晶材料的高指数实测极图进行处理，得到单晶材料的实测极点的位置和强度；将单晶材料的理论欧拉角对应理论极点的位置、以及单晶材料的实测极点的位置和强度输入实测极图与理论极图匹配目标函数，以单晶材料的理论欧拉角作为粒子群优化算法的粒子，采用粒子群优化算法迭代优化所述实测极图与理论极图匹配目标函数，达到设定迭代次数后，输出全局最优值对应的理论欧拉角，完成单晶材料的极图定向；根据全局最优值对应的理论欧拉角完成单晶材料的极点标定。本发明的目的在于解决单晶材料的极图定向与极点标定误差较大的问题。

公开(公告)号：CN118067291A

公开(公告)日：2024-05-24

申请号：CN202410215637.6

申请日：2024-02-27

Applicant: 西安交通大学

Inventor： 温广瑞 ,  黄博洋 ,  齐晓纲 ,  李良博 ,  张源麟 ,  张占玲 ,  雷子豪 ,  苏宇 ,  张志芬 ,  聂祥樊

IPC: G01L5/00 ,  G01L1/25

Abstract: 本发明公开了一种单晶材料残余应力的测试方法、装置、设备及存储介质，包括：确定待测单晶材料的扫描带范围；在所述扫描带范围内，对所述待测单晶材料在不同的极径和极角下进行衍射扫描，得到若干第一衍射谱图；对若干所述第一衍射谱图的衍射强度峰值以及对应的极径和极角进行拟合，得到三维拟合曲线；在所述扫描带范围内，对所述待测单晶材料在所述三维拟合曲线的峰位点对应的极径和极角下进行衍射扫描，得到第二衍射谱图；根据所述第二衍射谱图的衍射强度峰值对应的衍射角，计算待测单晶材料的残余应力。本发明的目的在于解决对单晶材料进行残余应力测试时，整个过程针对性差、效率低、测试扫描时间长的问题。