高增益的紫外雪崩探测器

    公开(公告)号:CN107275435B

    公开(公告)日:2019-04-09

    申请号:CN201710453903.9

    申请日:2017-06-15

    IPC分类号: H01L31/107

    摘要: 本发明公开了一种高增益的紫外雪崩探测器,包括蓝宝石衬底,蓝宝石衬底上生长有外延层,i型AlyGa1‑yN吸收层上设置有N型欧姆接触电极和ITO分离层,ITO分离层上设置有SiO2倍增层,SiO2倍增层设置有Ni/Au肖特基接触层,Ni/Au肖特基接触层上还设置有P型欧姆接触电极;本发明的有益效果是:通过一种全新的高增益的紫外雪崩探测器制作方法,经过精确的膜层结构设计,实现器件击穿电压、响应度、增益因子、暗电流等参数的可调可控,还具有基础的外延片可根据不同的设计指标重复使用的特点。

    一种具有发射和接收光信号功能的芯片及其制作方法

    公开(公告)号:CN108364909A

    公开(公告)日:2018-08-03

    申请号:CN201810055541.2

    申请日:2018-01-19

    摘要: 本发明公开了一种具有发射和接收光信号功能的芯片及其制作方法,其中制作方法包括以下步骤:S1:在衬底上生长LED外延层形成LED芯片;S2:利用光刻技术和刻蚀技术将LED芯片的部分区域刻蚀至衬底;S3:在衬底上生长Au层形成金焊垫;S4:在金焊垫上焊接光电探测器芯片;S5:生长电极。本发明将光信号的发射和接收功能集成在一颗芯片上,反馈回的光可以按照发光光路原路返回,不用进行二次光路设计,节省了很大的光路设计费用,而且发射和接收光信号功能集成在一个器件上,体积减小,更有利于产品高集成。

    一种具有发射和接收光信号功能的芯片及其制作方法

    公开(公告)号:CN108364909B

    公开(公告)日:2021-01-26

    申请号:CN201810055541.2

    申请日:2018-01-19

    摘要: 本发明公开了一种具有发射和接收光信号功能的芯片及其制作方法,其中制作方法包括以下步骤:S1:在衬底上生长LED外延层形成LED芯片;S2:利用光刻技术和刻蚀技术将LED芯片的部分区域刻蚀至衬底;S3:在衬底上生长Au层形成金焊垫;S4:在金焊垫上焊接光电探测器芯片;S5:生长电极。本发明将光信号的发射和接收功能集成在一颗芯片上,反馈回的光可以按照发光光路原路返回,不用进行二次光路设计,节省了很大的光路设计费用,而且发射和接收光信号功能集成在一个器件上,体积减小,更有利于产品高集成。

    一种隐形切割和背镀LED芯片的制作方法

    公开(公告)号:CN106784200B

    公开(公告)日:2018-10-19

    申请号:CN201710081998.6

    申请日:2017-02-15

    IPC分类号: H01L33/00 H01L33/22 H01L33/46

    摘要: 本发明涉及半导体加工领域,公开了一种隐形切割和背镀LED芯片的制作方法,其技术要点是:通过对晶圆进行化学抛光、生长粘附层、贴膜、隐形切割、翻转、背镀金属反射层和裂片,最终制得LED芯片,其中隐形切割时将晶圆和白膜粘接使隐形切割过程中因激光烧灼,蓝宝石衬底气化膨胀产生的杂质不会大面积喷在晶圆背面,只会存在于裂纹中,降低了背面污染,从而降低背镀层脱落几率,通过在蓝宝石衬底上生长粘附层,降低背镀层脱落概率由原先的20%降低至0.5%,部分光会在交界出形成全发射,一定程度上提高LED的出光效率,提升效果在10%左右。这种方法解决了现有隐形切割与背镀工艺中反射层脱落率高,LED发光效率不理想的问题。

    高增益的紫外雪崩探测器

    公开(公告)号:CN107275435A

    公开(公告)日:2017-10-20

    申请号:CN201710453903.9

    申请日:2017-06-15

    IPC分类号: H01L31/107

    CPC分类号: H01L31/1075

    摘要: 本发明公开了一种高增益的紫外雪崩探测器,包括蓝宝石衬底,蓝宝石衬底上生长有外延层,i型AlyGa1-yN吸收层上设置有N型欧姆接触电极和ITO分离层,ITO分离层上设置有SiO2倍增层,SiO2倍增层设置有Ni/Au肖特基接触层,Ni/Au肖特基接触层上还设置有P型欧姆接触电极;本发明的有益效果是:通过一种全新的高增益的紫外雪崩探测器制作方法,经过精确的膜层结构设计,实现器件击穿电压、响应度、增益因子、暗电流等参数的可调可控,还具有基础的外延片可根据不同的设计指标重复使用的特点。

    一种隐形切割和背镀LED芯片的制作方法

    公开(公告)号:CN106784200A

    公开(公告)日:2017-05-31

    申请号:CN201710081998.6

    申请日:2017-02-15

    IPC分类号: H01L33/00 H01L33/22 H01L33/46

    摘要: 本发明涉及半导体加工领域,公开了一种隐形切割和背镀LED芯片的制作方法,其技术要点是:通过对晶圆进行化学抛光、生长粘附层、贴膜、隐形切割、翻转、背镀金属反射层和裂片,最终制得LED芯片,其中隐形切割时将晶圆和白膜粘接使隐形切割过程中因激光烧灼,蓝宝石衬底气化膨胀产生的杂质不会大面积喷在晶圆背面,只会存在于裂纹中,降低了背面污染,从而降低背镀层脱落几率,通过在蓝宝石衬底上生长粘附层,降低背镀层脱落概率由原先的20%降低至0.5%,部分光会在交界出形成全发射,一定程度上提高LED的出光效率,提升效果在10%左右。这种方法解决了现有隐形切割与背镀工艺中反射层脱落率高,LED发光效率不理想的问题。