基于偏最小二乘回归法的绝缘子污秽等值盐密检测方法

    公开(公告)号:CN109612947A

    公开(公告)日:2019-04-12

    申请号:CN201910044896.6

    申请日:2019-01-17

    Abstract: 本发明公开了一种基于偏最小二乘回归法的绝缘子污秽等值盐密检测方法,包括如下步骤:S1:获取污秽绝缘子的高光谱图像,进行预处理,并分为第一高光谱图像集和第二高光谱图像集;S2:获取第一高光谱图像集对应的污秽绝缘子各局部区域的等值盐密,并提取第一高光谱图像集中积污绝缘子的高光谱谱线,根据污秽绝缘子的等值盐密和对应的高光谱谱线,获取优化等值盐密检测模型;S3:提取第二高光谱图像集中积污绝缘子各局部区域的高光谱谱线,并将其输入优化等值盐密检测模型,获取第二高光谱图像集对应污秽绝缘子各局部区域的等值盐密;本发明解决现有技术存在的操作过程繁琐、耗费人力物力以及在测量过程中易造成误差的问题。

Patent Agency Ranking