全自动测试设备
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN116393411B

    公开(公告)日:2023-09-22

    申请号:CN202310668474.2

    申请日:2023-06-07

    Abstract: 本发明公开了一种全自动测试设备,属于无线充电模组自动测试技术领域,其包括:转盘装置,包括相邻设置的第一转盘机构和第二转盘机构;测试机构,用于对第一转盘机构和第二转盘机构上的无线充电模组进行测试,测试机构数量有多个,且分别分布于第一转盘机构和第二转盘机构处;中转机构,位于第一转盘机构和第二转盘机构之间,以将第一转盘机构上的无线充电模组转运至第二转盘机构;搬运装置,包括位于第一转盘机构处的上料机械手和位于第二转盘机构处的下料机械手,上料机械手用于将无线充电模组上料至第一转盘机构,下料机械手用于将无线充电模组下料离第二转盘机构。本发明能够实现无线充电模组的自动测试,且测试效率高。

    全自动测试设备
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN116393411A

    公开(公告)日:2023-07-07

    申请号:CN202310668474.2

    申请日:2023-06-07

    Abstract: 本发明公开了一种全自动测试设备,属于无线充电模组自动测试技术领域,其包括:转盘装置,包括相邻设置的第一转盘机构和第二转盘机构;测试机构,用于对第一转盘机构和第二转盘机构上的无线充电模组进行测试,测试机构数量有多个,且分别分布于第一转盘机构和第二转盘机构处;中转机构,位于第一转盘机构和第二转盘机构之间,以将第一转盘机构上的无线充电模组转运至第二转盘机构;搬运装置,包括位于第一转盘机构处的上料机械手和位于第二转盘机构处的下料机械手,上料机械手用于将无线充电模组上料至第一转盘机构,下料机械手用于将无线充电模组下料离第二转盘机构。本发明能够实现无线充电模组的自动测试,且测试效率高。

    电容测试装置
    3.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220188624U

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202321437377.4

    申请日:2023-06-07

    Abstract: 本实用新型公开了一种电容测试装置,包括:转盘组件,包括转盘和沿着所述转盘的周向均匀分布在所述转盘上的多个载具,所述载具用于容置电气模组;升降结构,包括第一安装板和与所述第一安装板传动连接的升降驱动件,所述第一安装板位于所述转盘上方;测试头,固定在所述第一安装板上;压头组件,用于抵压所述电气模组,其设置在所述第一安装板上,所述压头组件可相对所述第一安装板沿着竖直方向移动;所述压头组件的底部相较于所述测试头的底部更靠近所述转盘,所述升降驱动件适于带动所述测试头和所述压头组件靠近或远离所述转盘。本实用新型能够实现自动、连续测试,压头组件能够在测试前抵压电气模组,以模拟实际使用环境,提高检测精度。

    下压测试装置
    4.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220188632U

    公开(公告)日:2023-12-15

    申请号:CN202321437839.2

    申请日:2023-06-07

    Abstract: 本实用新型公开了一种下压测试装置,包括:工装,用于容置待测模组;升降驱动结构;陪测产品,相对设置在所述工装上方;测力传感器,承接在所述升降驱动结构和所述陪测产品之间;隔板组件,阻隔在所述陪测产品和所述工装之间;其中,所述升降驱动结构适于驱动所述陪测产品移至所述隔板组件,并将所述待测模组吸附离所述工装。本实用新型通过设置阻隔在陪测产品和工装之间的隔板组件,升降驱动结构适于驱动陪测产品移至隔板组件,并将待测模组吸附离工装,以模拟待测模组置于壳体内后的环境,提高测力传感器的测试精度,减少测试误差,工装无需设置额外的固定结构,结构简单,测试效率高。

    LCR测试装置
    6.
    实用新型

    公开(公告)号:CN220509039U

    公开(公告)日:2024-02-20

    申请号:CN202321437568.0

    申请日:2023-06-07

    Abstract: 本实用新型公开了一种LCR测试装置,包括:升降组件,包括底座、固定在所述底座上的驱动件和与所述驱动件传动连接的基板,所述底座具有垂直于竖直方向的抵持面;测试头,设置在所述基板上;千分尺,沿竖直方向安装于所述基板上,所述千分尺包括可伸缩的螺杆;其中,所述抵持面和所述螺杆相对设置,所述驱动件适于驱动所述基板升降,并使所述螺杆与所述抵持面相抵。本实用新型能够确保驱动件在竖直方向的移动精度,保证测试头每次下降测试的位置高度一致,提高测试精度;此外,由于采用千分尺结构,螺杆为可伸缩结构,能够根据需要精准调节伸缩长度,进而可根据需要精确调节驱动件极限下降位置。

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