公开(公告)号：CN119881585A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510374621.4

申请日：2025-03-27

Applicant: 荣旗工业科技(苏州)股份有限公司

Inventor： 柳洪哲 ,  柳云鸿 ,  金元元 ,  武泽坤

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/01 ,  G01R1/04 ,  G01N21/95 ,  B07C5/34 ,  B07C5/344 ,  B07C5/38 ,  B65G47/91

Abstract: 本发明公开了一种全自动电性测试系统，属于半导体电性测试领域，其包括：主塔装置，包括第一转盘和多个取放产品的吸嘴机构，多个所述吸嘴机构沿所述第一转盘的周向均布于所述第一转盘，所述第一转盘适于带动所述吸嘴机构移转至中转工位；副塔装置，包括第二转盘和多个载具机构，多个所述载具机构沿所述第二转盘的周向均布于所述第二转盘，所述第二转盘适于带动所述载具机构移转至所述中转工位和电测工位；电测装置，设置于所述电测工位；其中，所述载具机构包括可吸附或松开产品的插座，所述插座适于分别与产品和所述电测装置电连接。本发明采用上述结构，能够高效、大批量地对产品进行电性测试。

公开(公告)号：CN119881586A

公开(公告)日：2025-04-25

申请号：CN202510374976.3

申请日：2025-03-27

Applicant: 荣旗工业科技(苏州)股份有限公司

Inventor： 柳洪哲 ,  柳云鸿 ,  金元元 ,  武泽坤

IPC: G01R31/26 ,  G01R31/265 ,  G01R31/28 ,  G01R31/311 ,  G01R1/04

Abstract: 本发明公开了一种电性测试装置及测试系统，属于半导体电性测试领域，其包括：安装架；电测机构，可沿竖直方向升降地设置于所述安装架；光源机构，可沿竖直方向升降地设置于所述安装架，且与所述电测机构在竖直方向相对布置；连杆机构，分别与所述电测机构和所述光源机构相接；连杆驱动件，设置于所述安装架，且与所述连杆机构传动连接；所述电测机构和所述光源机构之间形成有容置产品的测试间隙，所述电测机构和所述光源机构适于在所述连杆机构的带动下相向运动至测试状态，以光照和测试产品，或沿竖直方向背向运动至分离状态，以供产品进出。本发明采用上述结构，电性测试装置集成有光照和测试功能，以降低测试系统的生产成本。