一种集成电路、测试系统和用于测试RF振荡器的方法

    公开(公告)号:CN107786238B

    公开(公告)日:2020-02-28

    申请号:CN201710734789.7

    申请日:2017-08-24

    IPC分类号: H04B1/40 G01R31/317

    摘要: 公开了具有相位噪声测试能力的集成RF电路。本文描述了一种集成电路。根据一个实施例,集成电路包括具有生成本地振荡器信号的压控振荡器(VCO)的本地振荡器。进一步地,集成电路包括在VCO的下游耦合到VCO的分频器。分频器通过以恒定因子降低本地振荡器信号的频率来提供分频本地振荡器信号。集成电路的第一测试焊盘配置成接收参考振荡器信号。进一步地,集成电路包括接收参考振荡器信号和分频本地振荡器信号的第一混频器,用于降频转换分频本地振荡器信号。

    具有相位噪声测试能力的集成RF 电路

    公开(公告)号:CN107786238A

    公开(公告)日:2018-03-09

    申请号:CN201710734789.7

    申请日:2017-08-24

    IPC分类号: H04B1/40 H04B17/10 H04B17/20

    摘要: 公开了具有相位噪声测试能力的集成RF电路。本文描述了一种集成电路。根据一个实施例,集成电路包括具有生成本地振荡器信号的压控振荡器(VCO)的本地振荡器。进一步地,集成电路包括在VCO的下游耦合到VCO的分频器。分频器通过以恒定因子降低本地振荡器信号的频率来提供分频本地振荡器信号。集成电路的第一测试焊盘配置成接收参考振荡器信号。进一步地,集成电路包括接收参考振荡器信号和分频本地振荡器信号的第一混频器,用于降频转换分频本地振荡器信号。