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公开(公告)号：CN109588007B
公开(公告)日：2025-01-14
申请号：CN201811130228.7
申请日：2018-09-27
Applicant: 英特尔公司
IPC: H05K7/20
Abstract: 顺应的散热器。一种散热器装置、测试系统、方法可用于测试电子设备。散热器可包括中空壳体。中空壳体可以限定内腔。中空壳体可包括接触表面。散热器可包括工作流体。工作流体可被包括在内腔中。中空壳体可以被配置成物理顺应的。中空壳体可以是物理顺应的，使得中空壳体响应于施加的压力而符合测试表面的形状。测试表面可以是半导体的顶表面。测试表面可以是弯曲的或者否则缺乏一致性。中空壳体可以符合测试表面的弯曲或一致性的缺乏，使得中空壳体和表面之间存在最小间隙。
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公开(公告)号：CN104205234B
公开(公告)日：2017-07-11
申请号：CN201280072125.4
申请日：2012-03-30
Applicant: 英特尔公司
IPC: G11C29/12
Abstract: 一种用于存储器电路测试引擎的通用数据加扰器。存储器设备的实施例包括：存储器；用于存储器的存储器控制器；用于存储器的测试的内建自测试（BIST）电路；以及用于根据针对存储器的加扰算法来加扰数据的通用数据加扰器，其中每一个算法基于用于数据的地址的值。通用数据加扰器包括：保持用于算法的每个可能结果的值的可编程查找表，该查找表生成一组数据因子；以及用于将数据与数据因子组合以生成扰码数据的逻辑。
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公开(公告)号：CN104205234A
公开(公告)日：2014-12-10
申请号：CN201280072125.4
申请日：2012-03-30
Applicant: 英特尔公司
IPC: G11C29/12
Abstract: 一种用于存储器电路测试引擎的通用地址加扰器。存储器设备的实施例包括：存储器；用于存储器的存储器控制器；用于存储器的测试的内建自测试（BIST）电路；以及用于根据针对存储器的加扰算法来加扰数据的通用数据加扰器，其中每一个算法基于用于数据的地址的值。通用数据加扰器包括：保持用于算法的每个可能结果的值的可编程查找表，该查找表生成一组数据因子；以及用于将数据与数据因子组合以生成扰码数据的逻辑。
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公开(公告)号：CN109588007A
公开(公告)日：2019-04-05
申请号：CN201811130228.7
申请日：2018-09-27
Applicant: 英特尔公司
IPC: H05K7/20
Abstract: 顺应的散热器。一种散热器装置、测试系统、方法可用于测试电子设备。散热器可包括中空壳体。中空壳体可以限定内腔。中空壳体可包括接触表面。散热器可包括工作流体。工作流体可被包括在内腔中。中空壳体可以被配置成物理顺应的。中空壳体可以是物理顺应的，使得中空壳体响应于施加的压力而符合测试表面的形状。测试表面可以是半导体的顶表面。测试表面可以是弯曲的或者否则缺乏一致性。中空壳体可以符合测试表面的弯曲或一致性的缺乏，使得中空壳体和表面之间存在最小间隙。
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