公开(公告)号：CN112782129B

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202011598100.0

申请日：2020-12-29

Applicant: 苏州创鑫激光科技有限公司 ,  深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 吕张勇 ,  曾庆坤 ,  李广杰 ,  李永高 ,  邱小兵 ,  周凯斌 ,  屈浩田 ,  李昌席 ,  蒋峰

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明涉及激光器技术领域，公开一种光学薄膜测试方法及测试设备，其中，光学薄膜测试方法包括：获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度；根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性。因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。

公开(公告)号：CN112782129A

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN202011598100.0

申请日：2020-12-29

Applicant: 苏州创鑫激光科技有限公司 ,  深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 吕张勇 ,  曾庆坤 ,  李广杰 ,  李永高 ,  邱小兵 ,  周凯斌 ,  屈浩田 ,  李昌席 ,  蒋峰

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明涉及激光器技术领域，公开一种光学薄膜测试方法及测试设备，其中，光学薄膜测试方法包括：获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度；根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性。因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。

公开(公告)号：CN118090771A

公开(公告)日：2024-05-28

申请号：CN202311861986.7

申请日：2023-12-29

Applicant: 苏州创鑫激光科技有限公司

Inventor： 蒋峰 ,  李昌席 ,  陈相和 ,  王迪 ,  李明阳 ,  林玉生

IPC: G01N21/958 ,  G01N21/88 ,  G01M11/02 ,  G01M11/04

Abstract: 本申请公开了一种光学镜头测试装置。该光学镜头测试装置包括：调节架，包括可移动的多个支撑件，多个支撑件用于承载一套镜组，各支撑件分别用于承载镜组中的一个镜片；光纤激光器，设置于多个支撑件的一侧，用于向承载于多个支撑件上的镜组发射激光；光束分析仪，设置于多个支撑件背离光纤激光器的一侧，且光纤激光器、多个支撑件承载的镜组及光束分析仪处于同一基准轴上；其中，多个支撑件通过移动调节使得经镜组形成聚焦于光束分析仪上的光斑，光束分析仪用于探测经镜组聚焦而成的光斑的横截面能量分布。通过上述方式，本申请提供的光学镜头测试装置能够以低成本方式实现对镜片多指标的综合评价。

公开(公告)号：CN118936851A

公开(公告)日：2024-11-12

申请号：CN202411091655.4

申请日：2024-08-09

Applicant: 苏州创鑫激光科技有限公司

Inventor： 蒋峰 ,  陈相和 ,  李昌席 ,  王迪

IPC: G01M11/02 ,  G01J5/48

Abstract: 本发明公开了一种光学元件的连续激光温升评价测试系统，包括激光发生装置、z轴导轨、固定组件、运动机构、制冷组件、透射光路收光装置、反射光路吸光装置、温度检测装置；运动机构设置在z轴导轨上，制冷组件设置在运动机构上，固定组件设置在制冷组件上；透射光路吸光装置用于吸收经过待测光学元件的透射光线；反射光路吸光装置用于吸收经过待测光学元件的反射光线；激光发生装置、z轴导轨和透射光路收光装置依次沿x轴设置，激光发生装置出射激光，激光照射到待测光学元件上，之后被透射光路收光装置或反射光路吸光装置收光；温度检测装置用于实时检测待测光学元件的温度。本发明测试种类更多，且可兼容多种光学元件的连续激光温升测试。