公开(公告)号：CN112782129B

公开(公告)日：2023-08-08

申请号：CN202011598100.0

申请日：2020-12-29

Applicant: 苏州创鑫激光科技有限公司 ,  深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 吕张勇 ,  曾庆坤 ,  李广杰 ,  李永高 ,  邱小兵 ,  周凯斌 ,  屈浩田 ,  李昌席 ,  蒋峰

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明涉及激光器技术领域，公开一种光学薄膜测试方法及测试设备，其中，光学薄膜测试方法包括：获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度；根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性。因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。

公开(公告)号：CN112782129A

公开(公告)日：2021-05-11

申请号：CN202011598100.0

申请日：2020-12-29

Applicant: 苏州创鑫激光科技有限公司 ,  深圳市创鑫激光股份有限公司

Inventor： 吕张勇 ,  曾庆坤 ,  李广杰 ,  李永高 ,  邱小兵 ,  周凯斌 ,  屈浩田 ,  李昌席 ,  蒋峰

IPC: G01N21/59

Abstract: 本发明涉及激光器技术领域，公开一种光学薄膜测试方法及测试设备，其中，光学薄膜测试方法包括：获取待测物料的激光透过率，待测物料镀有用于透射激光的光学薄膜，激光由激光器按照指定激光参数产生的；确定激光作用于光学薄膜时的靶面温度；根据激光透过率与靶面温度，测试光学薄膜的合格性。因此，本方法能够自动化地利用激光透过率与靶面温度，测量光学薄膜的合格性，尽量减少人为因素的参与，有利于提高测量结果的准确性，并且节省测量时间。