过零检测电路和传感器装置

    公开(公告)号:CN110398623A

    公开(公告)日:2019-11-01

    申请号:CN201910333339.6

    申请日:2019-04-24

    IPC分类号: G01R19/175

    摘要: 本发明涉及过零检测电路和传感器装置。过零检测电路的特征在于,具备:第一比较电路,被输入第一输入信号n1和第二输入信号而输出第一比较结果;第二比较电路,具有滞后功能,被输入第一输入信号和第二输入信号而输出第二比较结果;电源电压检测电路,在供给的电源电压为规定的电压以上时输出检测信号;以及逻辑电路,基于第一比较结果、第二比较结果和检测信号来输出过零检测信号。

    半导体装置
    2.
    发明授权

    公开(公告)号:CN104123967B

    公开(公告)日:2018-05-08

    申请号:CN201410170910.4

    申请日:2014-04-25

    发明人: 冈智博

    IPC分类号: G11C29/08

    摘要: 本发明提供无需设置测试端子而能够进行测试模式投入的具备错误动作较少的测试模式电路的半导体装置。构成为具备与时钟同步地比较数据输入端子和数据输出端子的数据,并根据比较结果控制可否投入到测试模式的测试电路。

    过零检测电路和传感器装置

    公开(公告)号:CN110398623B

    公开(公告)日:2023-04-07

    申请号:CN201910333339.6

    申请日:2019-04-24

    IPC分类号: G01R19/175

    摘要: 本发明涉及过零检测电路和传感器装置。过零检测电路的特征在于,具备:第一比较电路,被输入第一输入信号n1和第二输入信号而输出第一比较结果;第二比较电路,具有滞后功能,被输入第一输入信号和第二输入信号而输出第二比较结果;电源电压检测电路,在供给的电源电压为规定的电压以上时输出检测信号;以及逻辑电路,基于第一比较结果、第二比较结果和检测信号来输出过零检测信号。