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公开(公告)号：CN109215723A
公开(公告)日：2019-01-15
申请号：CN201810731582.9
申请日：2018-07-05
Applicant: 艾尔默斯半导体股份公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在集成电路的运行期间检查该集成电路的存储器单元或寄存器单元的固定故障的方法，在存储器单元或寄存器单元中待保存数据在运行期间有一次被转换地保存，有一次不转换地被保存。关于转换的信息被一同存储，使得信息可被恢复。如果由于单独的数据位的固定故障而出现故障，则可以通过待保存数据的合适的转换和关于转换的相应的信息在紧急模式中继续使用存储器单元。另一个优点在于，由此可以明确地识别出故障类型“固定型”。具体地，故障探测通过存储数据、随后读取数据和比较待存储数据与被读取的数据来执行。
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公开(公告)号：CN109215723B
公开(公告)日：2022-10-14
申请号：CN201810731582.9
申请日：2018-07-05
Applicant: 艾尔默斯半导体股份公司
Abstract: 本发明涉及一种用于在集成电路的运行期间检查该集成电路的存储器单元或寄存器单元的固定故障的方法，在存储器单元或寄存器单元中待保存数据在运行期间有一次被转换地保存，有一次不转换地被保存。关于转换的信息被一同存储，使得信息可被恢复。如果由于单独的数据位的固定故障而出现故障，则可以通过待保存数据的合适的转换和关于转换的相应的信息在紧急模式中继续使用存储器单元。另一个优点在于，由此可以明确地识别出故障类型“固定型”。具体地，故障探测通过存储数据、随后读取数据和比较待存储数据与被读取的数据来执行。
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