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公开(公告)号：CN110568009B
公开(公告)日：2022-06-17
申请号：CN201910484970.6
申请日：2019-06-05
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： A·辛德勒
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使样本(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了在这种测量装置以及借助其执行的用于热分析的方法中实现测量的高度可重现性，根据本发明的测量装置具有用于坩埚(10)的防转动保护(19、21)，以便在坩埚(10)布置在传感器(20)上时设定坩埚(10)相对于传感器(20)的预定转动位置。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。
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公开(公告)号：CN110568009A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910484970.6
申请日：2019-06-05
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： A·辛德勒
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使样本(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了在这种测量装置以及借助其执行的用于热分析的方法中实现测量的高度可重现性，根据本发明的测量装置具有用于坩埚(10)的防转动保护(19、21)，以便在坩埚(10)布置在传感器(20)上时设定坩埚(10)相对于传感器(20)的预定转动位置。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。
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公开(公告)号：CN110568008A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910454019.6
申请日：2019-05-28
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： A·辛德勒
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明设置成，该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30)，其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30-1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30-2)。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。
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公开(公告)号：CN106896132A
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201611095310.1
申请日：2016-12-01
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
CPC classification number: G01J5/025 , G01J5/0003 , G01J5/0255 , G01J5/10 , G01J2005/0048 , G01J2005/0085 , G01N25/18 , G01N25/20 , G01K15/005 , G01N21/25 , G01N21/62
Abstract: 本发明涉及用于对试样(12)进行热分析的设备，包括：根据温度程序对试样(12)进行调温，在该温度程序的进程中试样(12)的温度(T)发生变化；在温度程序的进程中测量试样(12)的温度(T)；在温度程序的进程中测量试样(12)的与试样(12)的温度(T)不同的至少一个物理特性。为了改善对试样(12)的温度(T)进行测量的可靠性和精确性，根据本发明对试样(12)的温度(T)进行测量包括：用电磁激励射线照射试样(12)的第一表面区域，探测由于照射而从试样(12)的第二表面区域发出的热辐射的强度；通过评估探测到的热辐射强度求出试样(12)的热扩散系数(α)；根据求出的热扩散系数(α)在使用说明试样(12)的热扩散系数(α)的与温度相关的走向的数据的情况下求出试样(12)的温度。此外，本发明涉及相应的用于热分析的设备(10)以及用于校准在这种设备(10)中的温度测量装置(22)的方法和设备。
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公开(公告)号：CN104280285A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410314631.0
申请日：2014-07-03
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , M·格莱德 , G·赫尔 , A·尼梅赫 , T·希尔帕特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , G·凯瑟 , S·施姆尔泽 , M·迈耶尔 , S·克奈伯 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒
CPC classification number: B01L9/06 , B01L3/545 , B01L3/5453 , B01L2200/18 , B01L2300/021 , B01L2300/022 , G01N1/00 , G01N5/04 , G01N25/00 , G01N35/00722 , G01N35/00732 , G01N2001/002 , G01N2035/00752 , G01N2035/00801
Abstract: 公开了一种用于常备、运输、处理和存储热分析样本的方法和料盒。样本容器放置在料盒中，待检验的热分析样本被放入到样本容器内。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN110568007A
公开(公告)日：2019-12-13
申请号：CN201910450779.X
申请日：2019-05-28
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： A·辛德勒
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于对样本(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使样本(P)放置在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的样本(P)的样本温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明的设置成，测量装置还具有外坩埚(30-1)，外坩埚用于使坩埚(10)支承在外坩埚(30-1)中，其中，坩埚(10)由坩埚材料构成并且外坩埚(30-1)由与坩埚材料不同的外坩埚材料构成。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对样本(P)进行热分析的方法。
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公开(公告)号：CN104281733B
公开(公告)日：2018-04-03
申请号：CN201410332040.6
申请日：2014-07-11
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , T·希尔帕特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , G·凯瑟 , S·克奈伯 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒 , M·格莱德 , G·赫尔 , A·尼梅赫 , S·施姆尔泽 , M·迈耶尔
CPC classification number: G01K3/10 , G01N25/20 , G01N25/4866 , G06F17/16 , G06F17/18
Abstract: 本发明涉及一种用于评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)的方法。按照本发明规定，在使用程序控制的计算机装置(14；14a‑2)的情况下计算测量结果(DSCsample；DATAsample)与至少一个事先存储在计算机装置(14；14a‑2)中的数据记录一致的至少一个可能性，其中，该计算是基于之前从热分析的测量曲线(DSCsample)中摘取的有效数据(DATAsample)与相应存储的数据记录的有效数据(DATAref1)的比较(S4)。因此通过本发明为评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)提供了一种更简单的方式，其中，评估必要时可以有利地包括自动识别和分类测量曲线(DSCsample),并且在评估质量较高的同时尤其可以比迄今的方法更有效率、更经济并且更快速地执行。
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公开(公告)号：CN103969287B
公开(公告)日：2017-04-12
申请号：CN201410035821.9
申请日：2014-01-24
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , T·希尔博特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒 , M·格拉德尔 , G·赫尔 , S·克奈伯 , M·迈耶尔 , G·凯瑟
IPC: G01N25/20
CPC classification number: G01K3/14 , G01N25/4866
Abstract: 本发明涉及一种用作进行差热分析的方法，其中设置在可调温的样品腔中的样品按照基本线性的温度曲线从起始温度（Tstart）开始一直调温到最终温度（Tend），其中由在加热过程中在多个测量时间点（t0,...ti,...tn）进行的样品温度（Tsample）测量的结果中计算出cDTA‑信号（cDTA），作为测得的样品温度（Tsample）和按温度走向模型计算的参考温度（TRef）之间的温差。按照本发明，通过以下步骤为每个时间点（ti）计算对应的参考温度（TRef(ti)）:a)确定包含相关测量时间点（ti）的时间间隔；b1)在时间间隔中为测得的样品温度走向（TSample(t)）计算非线性的拟合函数，c)计算参考温度（TRef），作为测量时间点的拟合函数的值（TRef(ti)）。
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公开(公告)号：CN104281733A
公开(公告)日：2015-01-14
申请号：CN201410332040.6
申请日：2014-07-11
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： T·登纳 , J·布卢姆 , O·M·谢菲儿 , M·霍勒林 , T·希尔帕特 , A·佛里则尔 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , G·凯瑟 , S·克奈伯 , R·普瑞尔斯 , M·吉普哈德 , E·莫克赫娜 , A·辛德勒 , M·格莱德 , G·赫尔 , A·尼梅赫 , S·施姆尔泽 , M·迈耶尔
CPC classification number: G01K3/10 , G01N25/20 , G01N25/4866 , G06F17/16 , G06F17/18
Abstract: 本发明涉及一种用于评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)的方法。按照本发明规定，在使用程序控制的计算机装置(14；14a-2)的情况下计算测量结果(DSCsample；DATAsample)与至少一个事先存储在计算机装置(14；14a-2)中的数据记录一致的至少一个可能性，其中，该计算是基于之前从热分析的测量曲线(DSCsample)中摘取的有效数据(DATAsample)与相应存储的数据记录的有效数据(DATAref1)的比较(S4)。因此通过本发明为评估热分析的测量结果(DSCsample；DATAsample)提供了一种更简单的方式，其中，评估必要时可以有利地包括自动识别和分类测量曲线(DSCsample),并且在评估质量较高的同时尤其可以比迄今的方法更有效率、更经济并且更快速地执行。
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公开(公告)号：CN110568008B
公开(公告)日：2022-05-17
申请号：CN201910454019.6
申请日：2019-05-28
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： A·辛德勒
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于对试样(P)进行热分析的测量装置，其具有坩埚(10)以及传感器(20)，坩埚用于使试样(P)支承在坩埚(10)中，传感器用于测量布置在传感器(20)上的坩埚(10)中的试样(P)的试样温度。为了降低由于化学或物理反应对使用的构件造成损害、甚至破坏的风险，根据本发明设置成，该测量装置还具有在坩埚(10)和传感器(20)之间加入的垫片组件(30)，其具有接触坩埚(10)的由第一材料构成的第一层(30‑1)和接触传感器(20)的由与第一材料不同的第二材料构成的第二层(30‑2)。此外，本发明提出在使用这种测量装置的情况下进行的用于对试样(P)进行热分析的方法。
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