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公开(公告)号：CN106896132B
公开(公告)日：2019-07-26
申请号：CN201611095310.1
申请日：2016-12-01
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
CPC classification number: G01J5/025 , G01J5/0003 , G01J5/0255 , G01J5/10 , G01J2005/0048 , G01J2005/0085 , G01N25/18 , G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于对试样(12)进行热分析的设备，包括：根据温度程序对试样(12)进行调温，在该温度程序的进程中试样(12)的温度(T)发生变化；在温度程序的进程中测量试样(12)的温度(T)；在温度程序的进程中测量试样(12)的与试样(12)的温度(T)不同的至少一个物理特性。为了改善对试样(12)的温度(T)进行测量的可靠性和精确性，根据本发明对试样(12)的温度(T)进行测量包括：用电磁激励射线照射试样(12)的第一表面区域，探测由于照射而从试样(12)的第二表面区域发出的热辐射的强度；通过评估探测到的热辐射强度求出试样(12)的热扩散系数(α)；根据求出的热扩散系数(α)在使用说明试样(12)的热扩散系数(α)的与温度相关的走向的数据的情况下求出试样(12)的温度。此外，本发明涉及相应的用于热分析的设备(10)以及用于校准在这种设备(10)中的温度测量装置(22)的方法和设备。
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公开(公告)号：CN107860789B
公开(公告)日：2020-07-24
申请号：CN201710851017.1
申请日：2017-09-20
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于校准对试样(P1至P4)进行热分析的设备(10)的方法。根据本发明的方法包括：借助设备(10)的光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量，该一个确定的试样为此依次地保持在设备(10)的多个试样保持件(14‑1至14‑4)中并且分别进行光热测量，或多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14‑1至14‑4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量，其中，在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧，并且检测由于激励脉冲而从该试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射；比较多个试样保持件(14‑1至14‑4)的光热测量的结果；基于比较结果，为每个试样保持件(14‑1至14‑4)分别得出至少一个修正参数；以及基于得出的修正参数对设备(10)的温度测量装置(26‑1至26‑4)和/或设备(10)的调温装置(16‑1至16‑4)进行校准。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN105842274B
公开(公告)日：2019-07-12
申请号：CN201610068876.9
申请日：2016-02-01
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： M-A·塞米特斯 , M·布伦纳 , J·布卢姆 , R·坎贝尔 , T·登纳 , M·吉普哈德 , A·哈廷格尔 , T·希尔帕特 , S·劳特巴赫 , A·林德曼 , M·斯乔德尔 , A·斯特劳贝尔 , J·茨乔佩尔
IPC: G01N25/20
CPC classification number: G01N25/18
Abstract: 用于测量材料的热扩散率的系统包括具有上部部分和下部部分的壳体，将材料保持在壳体的上部部分与下部部分之间的固定位置中的板，以及在壳体的下部部分处的源，该源将热量沿着垂直于板的第一轴线投射到材料上。在壳体的上部部分处的传感器可相对于板移动并感测沿着垂直于板并从第一轴线偏置的第二轴线辐射通过材料的热量。控制器接收来自传感器的数据并计算该材料的热扩散率。
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公开(公告)号：CN107860789A
公开(公告)日：2018-03-30
申请号：CN201710851017.1
申请日：2017-09-20
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
IPC: G01N25/20
Abstract: 本发明涉及用于校准对试样(P1至P4)进行热分析的设备(10)的方法。根据本发明的方法包括：借助设备(10)的光热测量装置(18、20、22)在一个确定的试样上或在多个同种类的试样上进行光热测量，该一个确定的试样为此依次地保持在设备(10)的多个试样保持件(14-1至14-4)中并且分别进行光热测量，或多个同种类的试样为此保持在多个保持件(14-1至14-4)中的各其中一个中并且分别进行光热测量，其中，在光热测量时分别以电磁激励脉冲照射相关试样的第一侧，并且检测由于激励脉冲而从该试样的与第一侧相对的第二侧发出的热辐射；比较多个试样保持件(14-1至14-4)的光热测量的结果；基于比较结果，为每个试样保持件(14-1至14-4)分别得出至少一个修正参数；以及基于得出的修正参数对设备(10)的温度测量装置(26-1至26-4)和/或设备(10)的调温装置(16-1至16-4)进行校准。
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公开(公告)号：CN106896132A
公开(公告)日：2017-06-27
申请号：CN201611095310.1
申请日：2016-12-01
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
CPC classification number: G01J5/025 , G01J5/0003 , G01J5/0255 , G01J5/10 , G01J2005/0048 , G01J2005/0085 , G01N25/18 , G01N25/20 , G01K15/005 , G01N21/25 , G01N21/62
Abstract: 本发明涉及用于对试样(12)进行热分析的设备，包括：根据温度程序对试样(12)进行调温，在该温度程序的进程中试样(12)的温度(T)发生变化；在温度程序的进程中测量试样(12)的温度(T)；在温度程序的进程中测量试样(12)的与试样(12)的温度(T)不同的至少一个物理特性。为了改善对试样(12)的温度(T)进行测量的可靠性和精确性，根据本发明对试样(12)的温度(T)进行测量包括：用电磁激励射线照射试样(12)的第一表面区域，探测由于照射而从试样(12)的第二表面区域发出的热辐射的强度；通过评估探测到的热辐射强度求出试样(12)的热扩散系数(α)；根据求出的热扩散系数(α)在使用说明试样(12)的热扩散系数(α)的与温度相关的走向的数据的情况下求出试样(12)的温度。此外，本发明涉及相应的用于热分析的设备(10)以及用于校准在这种设备(10)中的温度测量装置(22)的方法和设备。
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公开(公告)号：CN105842274A
公开(公告)日：2016-08-10
申请号：CN201610068876.9
申请日：2016-02-01
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： M-A·塞米特斯 , M·布伦纳 , J·布卢姆 , R·坎贝尔 , T·登纳 , M·吉普哈德 , A·哈廷格尔 , T·希尔帕特 , S·劳特巴赫 , A·林德曼 , M·斯乔德尔 , A·斯特劳贝尔 , J·茨乔佩尔
IPC: G01N25/20
Abstract: 用于测量材料的热扩散率的系统包括具有上部部分和下部部分的壳体，将材料保持在壳体的上部部分与下部部分之间的固定位置中的板，以及在壳体的下部部分处的源，该源将热量沿着垂直于板的第一轴线投射到材料上。在壳体的上部部分处的传感器可相对于板移动并感测沿着垂直于板并从第一轴线偏置的第二轴线辐射通过材料的热量。控制器接收来自传感器的数据并计算该材料的热扩散率。
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公开(公告)号：CN103575722A
公开(公告)日：2014-02-12
申请号：CN201310329059.0
申请日：2013-07-31
Applicant: 耐驰-仪器制造有限公司
Inventor： M·布鲁纳 , J·布卢姆 , T·登纳 , R·坎贝尔 , T·希尔帕特 , M·吉普哈德 , S·劳特巴赫 , A·斯特劳贝尔 , J·茨乔佩尔 , M·斯乔德尔 , A·林德曼 , A·哈廷格尔
IPC: G01N21/66
CPC classification number: G01N21/1717 , G01N25/18
Abstract: 本发明涉及一种用于样品(12)的光热研究的装置(10)，该装置带有用于产生指向样品(12)的激励面的电磁激励射束(18)的激励源(14，20，22)，用于检测由样品(12)的检测面发射出的热辐射(26)的探测器(28)，和温度可控制的样品腔(36)，该样品腔包括容纳在其中的样品保持器(13)，用于样品(12)的放置和温度控制。根据本发明，作出了这样的设置，使得可调节的检测光学系统(32)设置在样品保持器(13)和探测器(28)之间，所述检测光学系统是可调节的，以调节在样品表面上的探测器(28)的期望视域。
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