用于求取相对位置P的方法和系统
    1.
    发明公开

    公开(公告)号:CN115812160A

    公开(公告)日:2023-03-17

    申请号:CN202180047999.3

    申请日:2021-06-23

    Abstract: 用于求取第一对象(100、100a、100b)的相对于至少一个参考对象(200、200a、200b)的相对位置P的根据本发明的方法(10)包括:‑借助与参考对象(200、200a、200b)相关联的磁场产生设备(202)来产生具有可区分的调制频率的至少三个定向磁场,其中,磁场产生设备(202)包括至少三个发射器线圈,它们相对于彼此具有限定的布置,‑借助第一对象(100、100a、100b)的磁场检测设备(112、112a)来检测磁场的磁场强度和调制频率,‑借助分析设备(302)从检测到的、可通过检测到的调制频率与定向磁场相关联的磁场强度来求取第一对象(100、100a、100b)的相对于至少一个参考对象(200、200a、200b)的相对位置P。此外,提出了一种系统,该系统包括第一对象、至少一个参考对象(200、200a、200b)以及分析设备(302),其中,该系统设计用于执行本发明的方法(10)。

    用于检测脑电波感应磁场的传感器单元和方法

    公开(公告)号:CN118742822A

    公开(公告)日:2024-10-01

    申请号:CN202280091995.X

    申请日:2022-12-30

    Abstract: 本发明涉及一种用于在非屏蔽环境中检测脑电波感应磁场的传感器单元,包括:被设置为布置在用户头部周围的多个梯度计单元(100、200、300、400),其中每个梯度计单元(100、200、300、400)包括彼此以固定间距来布置的两个磁力计(101、102、401、402),其中每个磁力计包括传感器介质(101、102)并且被设置为通过读出传感器介质中取决于磁场强度的自旋共振来检测测量位置处的磁场强度,其中所述传感器单元还包括用于将光(124)辐射入磁力计的传感器介质(101、102)中的至少一个激发光源(120),其中所述传感器单元还包括至少一个信号处理单元(406),所述信号处理单元用于将梯度计单元(100、200、300、400)上的磁场梯度确定为梯度计单元的两个磁力计的输出信号之间的差值,并且用于检测磁场梯度的时间上的变化过程。

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