基板处理装置和方法
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107665805B

    公开(公告)日:2019-11-05

    申请号:CN201710627791.4

    申请日:2017-07-28

    Abstract: 一种基板处理装置,包括:处理室,在其内部具有处理空间;支撑单元,其布置在处理室中以支撑基板;供气单元,其被配置为将工艺气体提供到处理室中;等离子体产生单元,其被配置为由工艺气体产生等离子体。等离子体产生单元包括:上电极,其布置在基板上;下电极,其布置在基板下方以与上电极竖直相对;三个高频电源,其被配置为向下电极施加高频功率。这三个高频电源包括:频率为10MHz以下的第一频率电源和第二频率电源;和频率为10MHz以上的第三频率电源。

    支承单元和包括该支承单元的基板处理装置

    公开(公告)号:CN115295386A

    公开(公告)日:2022-11-04

    申请号:CN202210928718.1

    申请日:2018-10-30

    Abstract: 本发明涉及支承单元和包括该支承单元的基板处理装置。基板处理装置包括:腔室,在该腔室内部具有处理空间;支承单元,其配置为支承基板;气体供应单元,其配置为将气体供应到处理空间中;和等离子体源,其配置为生成等离子体,其中,支承单元包括:支承板,基板定位在该支承板上;环组件,其围绕支承板的周围并具有环形电极;和电压施加单元,其配置为通过向环形电极施加电压来控制等离子体到基板上的入射角,且其中,电压施加单元包括:导电材料的底板;直流电源,其配置为向底板施加直流电压;和多个连接体,其连接底板和环形电极,由导电材料形成。

    支承单元和包括该支承单元的基板处理装置

    公开(公告)号:CN109727839B

    公开(公告)日:2022-08-23

    申请号:CN201811276800.0

    申请日:2018-10-30

    Abstract: 基板处理装置包括:腔室,在该腔室内部具有处理空间;支承单元,其配置为支承基板;气体供应单元,其配置为将气体供应到处理空间中;和等离子体源,其配置为生成等离子体,其中,支承单元包括:支承板,基板定位在该支承板上;环组件,其围绕支承板的周围并具有环形电极;和电压施加单元,其配置为通过向环形电极施加电压来控制等离子体到基板上的入射角,且其中,电压施加单元包括:导电材料的底板;直流电源,其配置为向底板施加直流电压;和多个连接体,其连接底板和环形电极,由导电材料形成。

    支承单元和包括该支承单元的基板处理装置

    公开(公告)号:CN109727839A

    公开(公告)日:2019-05-07

    申请号:CN201811276800.0

    申请日:2018-10-30

    Abstract: 基板处理装置包括:腔室,在该腔室内部具有处理空间;支承单元,其配置为支承基板;气体供应单元,其配置为将气体供应到处理空间中;和等离子体源,其配置为生成等离子体,其中,支承单元包括:支承板,基板定位在该支承板上;环组件,其围绕支承板的周围并具有环形电极;和电压施加单元,其配置为通过向环形电极施加电压来控制等离子体到基板上的入射角,且其中,电压施加单元包括:导电材料的底板;直流电源,其配置为向底板施加直流电压;和多个连接体,其连接底板和环形电极,由导电材料形成。

    基板处理装置和方法
    5.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107665805A

    公开(公告)日:2018-02-06

    申请号:CN201710627791.4

    申请日:2017-07-28

    Abstract: 一种基板处理装置,包括:处理室,在其内部具有处理空间;支撑单元,其布置在处理室中以支撑基板;供气单元,其被配置为将工艺气体提供到处理室中;等离子体产生单元,其被配置为由工艺气体产生等离子体。等离子体产生单元包括:上电极,其布置在基板上;下电极,其布置在基板下方以与上电极竖直相对;三个高频电源,其被配置为向下电极施加高频功率。这三个高频电源包括:频率为10MHz以下的第一频率电源和第二频率电源;和频率为10MHz以上的第三频率电源。

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