-
公开(公告)号：CN102197427B
公开(公告)日：2014-05-28
申请号：CN201080003083.X
申请日：2010-07-01
申请人： 索尼公司 , 松下电器产业株式会社 , TDK株式会社 , 日立民用电子股份有限公司 , 三星电子株式会社
IPC分类号： G11B7/007 , G11B7/1267 , G11B7/24038 , G11B20/12
CPC分类号： G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1217 , G11B2007/0013 , G11B2020/1275 , G11B2220/235 , G11B2220/2541
摘要： 在由三层或更多层构成的光盘中设有适当的内区块布局。在每个记录层上的每个内区块(内周侧区域)中设有测试区域。记录层的测试区域被部署成使得测试区域在层方向上不相互重叠。没有多于一个管理信息记录/再现区域在比记录层的测试区域更朝着激光入射表面的一侧与测试区域在层方向上重叠。另外，管理信息记录/再现区域被部署管理信息记录/再现区域不在盘基板侧在层方向上与记录层的测试区域重叠。
-
公开(公告)号：CN102197428B
公开(公告)日：2014-04-02
申请号：CN201080003085.9
申请日：2010-07-01
申请人： 索尼公司 , 松下电器产业株式会社 , TDK株式会社 , 日立民用电子股份有限公司 , 三星电子株式会社
IPC分类号： G06F12/02 , G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/125
CPC分类号： G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24038
摘要： 在四层盘中设有适当的内区块布局。在每个记录层上的每个内区块(内周侧区域)中设有测试区域。当在四个测试区域之中，外周侧的两个测试区域形成第一配对并且内周侧的两个测试区域形成第二配对时，来自第一配对的测试区域和来自第二配对的测试区域被部署成在层方向上不相互重叠。构成第一配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向，并且这些测试区域被部署成使得随后要使用的区域不容易相互重叠。构成第二配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向，这是与第一配对的测试区域消耗方向相反的方向，并且这些测试区域被部署成使得随后要使用的区域不容易相互重叠。
-
公开(公告)号：CN102197428A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201080003085.9
申请日：2010-07-01
申请人： 索尼公司 , 松下电器产业株式会社 , TDK株式会社 , 日立民用电子股份有限公司 , 三星电子股份有限公司
IPC分类号： G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/125
CPC分类号： G11B7/00736 , G11B7/1267 , G11B7/24038
摘要： 在四层盘中设有适当的内区块布局。在每个记录层上的每个内区块(内周侧区域)中设有测试区域。当在四个测试区域之中，外周侧的两个测试区域形成第一配对并且内周侧的两个测试区域形成第二配对时，来自第一配对的测试区域和来自第二配对的测试区域被部署成在层方向上不相互重叠。构成第一配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向，并且这些测试区域被部署成使得随后要使用的区域不容易相互重叠。构成第二配对的两个测试区域具有相同的测试区域消耗方向，这是与第一配对的测试区域消耗方向相反的方向，并且这些测试区域被部署成使得随后要使用的区域不容易相互重叠。
-
公开(公告)号：CN102197427A
公开(公告)日：2011-09-21
申请号：CN201080003083.X
申请日：2010-07-01
申请人： 索尼公司 , 松下电器产业株式会社 , TDK株式会社 , 日立民用电子股份有限公司 , 三星电子股份有限公司
IPC分类号： G11B7/007 , G11B7/0045 , G11B7/125
CPC分类号： G11B7/1267 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B20/1217 , G11B2007/0013 , G11B2020/1275 , G11B2220/235 , G11B2220/2541
摘要： 在由三层或更多层构成的光盘中设有适当的内区块布局。在每个记录层上的每个内区块(内周侧区域)中设有测试区域。记录层的测试区域被部署成使得测试区域在层方向上不相互重叠。没有多于一个管理信息记录/再现区域在比记录层的测试区域更朝着激光入射表面的一侧与测试区域在层方向上重叠。另外，管理信息记录/再现区域被部署管理信息记录/再现区域不在盘基板侧在层方向上与记录层的测试区域重叠。
-
-
-
搜索结果
4 条记录 (耗时 0.071 秒)
