一种多参考值的共聚焦内窥镜图像校正方法及相关设备

    公开(公告)号:CN117635494A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311601048.3

    申请日:2023-11-28

    Abstract: 本申请公开了一种多参考值的共聚焦内窥镜图像校正方法及相关设备,涉及图像处理领域,该方法包括:获取均匀扫描采样点数据集和正弦采样数据点集;计算上述均匀扫描采样点数据集和正弦采样数据点集中数据的中心差值信息;基于上述中心差值信息、拉伸系数、振镜扫描频率和正弦采样频率计算参考变量;基于上述参考变量和上述参考变量阈值信息确定校正参考值;根据上述校正参考值和正弦采样数据点集中图像的中心列信息对上述正弦采样数据集进行校正操作。

    一种多索引值的共聚焦内窥镜图像校正方法及相关设备

    公开(公告)号:CN117635495A

    公开(公告)日:2024-03-01

    申请号:CN202311601353.2

    申请日:2023-11-28

    Abstract: 本申请公开了一种多索引值的共聚焦内窥镜图像校正方法及相关设备,涉及图像处理领域,该方法包括:获取校正参考值,其中,上述校正参考值是基于均匀扫描采样点数据集、正弦采样数据点集、校正参数和频率参数确定的,上述校正参数包括拉伸系数和中心列信息,上述频率参数包括振镜扫描频率和正弦采样频率;根据上述校正参考值和上述中心列信息确定校正目标值;基于校正目标值和目标阈值对上述正弦采样数据集进行校正操作。

    探头式共聚焦内窥镜视场检测方法

    公开(公告)号:CN117073982B

    公开(公告)日:2024-07-02

    申请号:CN202310915112.9

    申请日:2023-07-25

    Abstract: 本发明公开了探头式共聚焦内窥镜视场检测方法,包括S1,使用探头式共聚焦内窥镜对光栅成像,得到光栅图像;S2,将所有栅线处理为线段,得到线段集合;S3,对所有线段进行圆拟合,得到拟合圆的直径diam;计算相邻两条线段间的平均距离,得到#imgabs0#S4,计算视场大小FOV,#imgabs1#S为光栅的规格参数,表示光栅中一个线对的物理距离。使用探头式共聚焦内窥镜对光栅进行成像,利用光栅图像中的栅线来进行视场大小的测量,将栅线处理为线段,通过#imgabs2#获得视野范围内的光栅线对数量,然后再乘以一个线对的物理距离,就可以直接获得探头式共聚焦内窥镜的视场大小。误差更小,获得的视场大小更加客观精准。

    探头式共聚焦内窥镜视场检测方法

    公开(公告)号:CN117073982A

    公开(公告)日:2023-11-17

    申请号:CN202310915112.9

    申请日:2023-07-25

    Abstract: 本发明公开了探头式共聚焦内窥镜视场检测方法,包括S1,使用探头式共聚焦内窥镜对光栅成像,得到光栅图像;S2,将所有栅线处理为线段,得到线段集合;S3,对所有线段进行圆拟合,得到拟合圆的直径diam;计算相邻两条线段间的平均距离,得到#imgabs0#S4,计算视场大小FOV,#imgabs1#S为光栅的规格参数,表示光栅中一个线对的物理距离。使用探头式共聚焦内窥镜对光栅进行成像,利用光栅图像中的栅线来进行视场大小的测量,将栅线处理为线段,通过#imgabs2#获得视野范围内的光栅线对数量,然后再乘以一个线对的物理距离,就可以直接获得探头式共聚焦内窥镜的视场大小。误差更小,获得的视场大小更加客观精准。

Patent Agency Ranking