液晶面板的评价方法和评价装置

    公开(公告)号:CN100380193C

    公开(公告)日:2008-04-09

    申请号:CN01139340.8

    申请日:2001-11-21

    Inventor: 黑岩雅宏

    CPC classification number: G02F1/1309

    Abstract: 本发明的课题是,提供可以比现有方法以更高的精度获得关于液晶层信息的一种新型的液晶面板评价方法和评价装置。使入射光学系统中的偏振片25具有与设定方向平行的偏振光偏振轴25t。光线在通过该偏振片25以后形成其振动面包含上述偏振光偏振轴25t方向的线偏振光Li,它以入射角θi入射到液晶面板10。与此相对照,上述检测光学系统被设定成用来检测以入射角θi入射的线偏振光Li中的镜面反射光。以与入射角θi大致相等的出射角θo从液晶面板10出射的镜面反射光入射到偏振片26,最后被导入上述光检测器29。偏振片26有一个偏振光吸收轴26a,它以光路为基准平行于偏振片25的偏振光偏振轴25t。

    液晶盒间隙调整装置、加压封装装置及液晶显示装置的制造方法

    公开(公告)号:CN1342913A

    公开(公告)日:2002-04-03

    申请号:CN01132586.0

    申请日:2001-09-06

    CPC classification number: G02F1/1341 G02F1/1333 G02F1/1339

    Abstract: 一种能准确且迅速地调整一个以上的液晶盒的间隙的液晶盒间隙调整装置、加压封装装置及液晶显示装置的制造方法。这是一种将液晶注入通过呈框体形状同时在其框壁的规定位置有开口部的密封材料粘接起来的一对基板之间、调整一对基板之间的厚度(液晶盒间隙)的液晶盒间隙调整装置2,备有:支撑装置3和加压装置50,支撑装置3有分别夹持并支撑一个以上的液晶盒1的一对以上的支撑夹具30;以及配置在液晶盒1及上述支撑夹具30之间、利用液晶盒1的一对基板的两侧外表面和一对支撑夹具30的与液晶盒1相对的表面及其内表面,形成密闭空间的呈框体形状的密闭用密封件32,加压装置50利用导入密闭空间的流体的压力,对液晶盒1的一对基板的两侧外表面同时加压。

    液晶盒间隙调整装置、加压封装装置及液晶显示装置的制造方法

    公开(公告)号:CN1316292C

    公开(公告)日:2007-05-16

    申请号:CN01132586.0

    申请日:2001-09-06

    CPC classification number: G02F1/1341 G02F1/1333 G02F1/1339

    Abstract: 一种能准确且迅速地调整一个以上的液晶盒的间隙的液晶盒间隙调整装置、加压封装装置及液晶显示装置的制造方法。这是一种将液晶注入通过呈框体形状同时在其框壁的规定位置有开口部的密封材料粘接起来的一对基板之间、调整一对基板之间的厚度(液晶盒间隙)的液晶盒间隙调整装置2,备有:支撑装置3和加压装置50,支撑装置3有分别夹持并支撑一个以上的液晶盒1的一对以上的支撑夹具30;以及配置在液晶盒1及上述支撑夹具30之间、利用液晶盒1的一对基板的两侧外表面和一对支撑夹具30的与液晶盒1相对的表面及其内表面,形成密闭空间的呈框体形状的密闭用密封件32,加压装置50利用导入密闭空间的流体的压力,对液晶盒1的一对基板的两侧外表面同时加压。

    液晶盒厚度检测方法、液晶盒厚度控制系统及液晶装置制造方法

    公开(公告)号:CN1285880C

    公开(公告)日:2006-11-22

    申请号:CN01132511.9

    申请日:2001-08-31

    Inventor: 黑岩雅宏

    CPC classification number: G01B11/06

    Abstract: 提供一种新的液晶盒厚度测定方法,可以精确地检测液晶面板的液晶盒厚度,而不因滤色器的存在而受影响。利用分光单元(141)对透过夹持液晶显示面板(10)的加压夹具的光进行分光,根据该分光光谱中的极小值或极大值的波长或频率求出液晶盒厚度。将检测出的液晶盒厚度与目标值进行比较,与该比较结果对应,利用压力控制单元(132)向加压夹具供给流体。

    液晶面板的评价方法和评价装置

    公开(公告)号:CN1354360A

    公开(公告)日:2002-06-19

    申请号:CN01139340.8

    申请日:2001-11-21

    Inventor: 黑岩雅宏

    CPC classification number: G02F1/1309

    Abstract: 本发明的课题是,提供可以比现有方法以更高的精度获得关于液晶层信息的一种新型的液晶面板评价方法和评价装置。使入射光学系统中的偏振片25具有与设定方向平行的偏振光偏振轴25t。光线在通过该偏振片25以后形成其振动面包含上述偏振光偏振轴25t方向的线偏振光Li,它以入射角θi入射到液晶面板10。与此相对照,上述检测光学系统被设定成用来检测以入射角θi入射的线偏振光Li中的镜面反射光。以与入射角θi大致相等的出射角θ。从液晶面板10出射的镜面反射光入射到偏振片26,最后被导入上述光检测器29。偏振片26有一个偏振光吸收轴26a,它以光路为基准平行于偏振片25的偏振光偏振轴25t。

    液晶盒厚度检测方法、液晶盒厚度控制系统及液晶装置制造方法

    公开(公告)号:CN1340690A

    公开(公告)日:2002-03-20

    申请号:CN01132511.9

    申请日:2001-08-31

    Inventor: 黑岩雅宏

    CPC classification number: G01B11/06

    Abstract: 提供一种新的液晶盒厚度测定方法,可以精确地检测液晶面板的液晶盒厚度,而不因滤色器的存在而受影响。利用分光单元141对透过夹持液晶显示面板10的加压夹具的光进行分光,根据该分光光谱中的极小值或极大值的波长或频率求出液晶盒厚度。将检测出的液晶盒厚度与目标值进行比较,与该比较结果对应,利用压力控制单元132向加压夹具供给流体。

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