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发明公开
集成电路及其测试方法审中-实审

公开(公告)号：CN117630632A

公开(公告)日：2024-03-01

申请号：CN202211087367.2

申请日：2022-09-07

申请人： 立积电子股份有限公司

发明人： 林明燕 , 王梓百 , 翁宏启

IPC分类号： G01R31/28

摘要： 本发明提出一种集成电路及其测试方法。集成电路包括第一扫描链、第二扫描链以及第一连接装置。第一连接装置耦接至第一扫描链，且用以将第一扫描链划分为复数段。其中的复数段包括第一段及第二段。在第一测试模式中，第一连接装置断开第一段与第二段之间的连续数据传输路径，以及使第一段及第二段的其中至少一者建立与第二扫描链之间的数据传输路径。