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公开(公告)号：CN102027344A
公开(公告)日：2011-04-20
申请号：CN200880128650.7
申请日：2008-02-15
Applicant: 科学技术设备委员会
Inventor： 达米安·魏德曼
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0232 , G01J3/0286 , G01J3/08 , G01J3/427 , G01N21/276 , G01N21/3518 , G01N21/39 , G01N2021/399
Abstract: 本发明提供了一种通过使不同频率的第一和第二激光束穿过样本、利用吸收光谱法来检测样本的同位素比的方法和装置。使用了两个IR吸收室，第一IR吸收室包含同位素比已知的参考气体，第二IR吸收室包含同位素比未知的样本。可以使用交错器或反射斩光器，使得当激光频率被扫描时，交替地检测样本室的吸收和参考室的吸收。这确保了连续地校准该装置并且在使用相敏检测时可以丢弃基线噪声。
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公开(公告)号：CN102027344B
公开(公告)日：2015-03-18
申请号：CN200880128650.7
申请日：2008-02-15
Applicant: 科学技术设备委员会
Inventor： 达米安·魏德曼
CPC classification number: G01J3/02 , G01J3/0208 , G01J3/0232 , G01J3/0286 , G01J3/08 , G01J3/427 , G01N21/276 , G01N21/3518 , G01N21/39 , G01N2021/399
Abstract: 本发明提供了一种通过使不同频率的第一和第二激光束穿过样本、利用吸收光谱法来检测样本的同位素比的方法和装置。使用了两个IR吸收室，第一IR吸收室包含同位素比已知的参考气体，第二IR吸收室包含同位素比未知的样本。可以使用交错器或反射斩光器，使得当激光频率被扫描时，交替地检测样本室的吸收和参考室的吸收。这确保了连续地校准该装置并且在使用相敏检测时可以丢弃基线噪声。
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公开(公告)号：CN102667445B
公开(公告)日：2016-09-07
申请号：CN201080050338.8
申请日：2010-11-12
Applicant: 科学技术设备委员会 , 普林斯顿大学保管委员会
IPC: G01N21/35 , G01N21/3504 , G01N21/39 , G01N21/45
CPC classification number: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了用于检测稀介质中的物质的方法和设备（10），所述物质具有光谱特征，所述设备包括：光束源（20），其布置用于产生彼此相干并具有匹配的啁啾模式的第一激光束和第二激光束；光束引导器，其布置用于使至少所述第一激光束穿过所述稀介质；光束混合器，其布置用于将所述第一激光束和所述第二激光束混合以形成混合光束；检测器（80），其布置用于在所述啁啾模式期间检测所述混合光束，并测量由光谱特征上所述稀介质的折射率变化引起的所述混合光束的改变；输出器，其提供响应于测量到的改变而改变的信号。
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公开(公告)号：CN102667445A
公开(公告)日：2012-09-12
申请号：CN201080050338.8
申请日：2010-11-12
Applicant: 科学技术设备委员会 , 普林斯顿大学保管委员会
CPC classification number: G01N21/45
Abstract: 本发明公开了用于检测稀介质中的物质的方法和设备（10），所述物质具有光谱特征，所述设备包括：光束源（20），其布置用于产生彼此相干并具有匹配的啁啾模式的第一激光束和第二激光束；光束引导器，其布置用于使至少所述第一激光束穿过所述稀介质；光束混合器，其布置用于将所述第一激光束和所述第二激光束混合以形成混合光束；检测器（80），其布置用于在所述啁啾模式期间检测所述混合光束，并测量由光谱特征上所述稀介质的折射率变化引起的所述混合光束的改变；输出器，其提供响应于测量到的改变而改变的信号。
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