错误分析方法、系统、电子设备和存储介质

    公开(公告)号:CN119337108A

    公开(公告)日:2025-01-21

    申请号:CN202411910898.6

    申请日:2024-12-24

    Abstract: 本发明涉及数据分析技术领域,提供一种错误分析方法、系统、电子设备和存储介质,其中方法包括:对待分析数据进行预处理,得到属性向量;基于分析路径,对属性向量中的错误进行识别,得到错误识别结果;对错误识别结果进行错误分类,并对错误分类结果中的真错误进行分析,确定错误原因;对错误原因进行展示,得到错误地图,并将真错误的分析过程以树状图的形式进行展示,得到分析地图。本发明支持用户自定义分析路径,可以提高错误分析的灵活性并满足用户需求,通过对错误识别结果进行分类并专注于分析真错误,可以提高错误分析的效率和准确性,通过展示错误地图和分析地图,可以使用户更加直观和快速地定位错误原因,从而提高分析效率。

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