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公开(公告)号：CN113256576B
公开(公告)日：2022-10-28
申请号：CN202110537692.3
申请日：2021-05-18
Applicant: 福州大学
IPC: G06T7/00 , G06T7/11 , G06V10/82 , G06V10/774 , G06N3/04
Abstract: 本发明涉及一种基于偏振成像和机器学习的光学元件自动检测系统及方法，通过将暗场成像与分焦平面技术的偏振度成像方法相结合，抑制光学元件的高光现象和环境杂散光，获得高质量的元件缺陷成像；再利用卷积神经网络构建缺陷识别算法，将缺陷图片做成训练集与测试集对神经网络进行训练与测试；最终实现光学元件的实时偏振成像与实时缺陷检测。本发明能够抑制高光现象，对具有高反射性和高投射性的透明元件的缺陷特征进行实时的高对比度成像，并利用基于卷积神经网络的缺陷识别算法，获得识别速度达微秒级、准确率在98%以上的光学元件缺陷自动检测。
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公开(公告)号：CN113256576A
公开(公告)日：2021-08-13
申请号：CN202110537692.3
申请日：2021-05-18
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种基于偏振成像和机器学习的光学元件自动检测系统及方法，通过将暗场成像与分焦平面技术的偏振度成像方法相结合，抑制光学元件的高光现象和环境杂散光，获得高质量的元件缺陷成像；再利用卷积神经网络构建缺陷识别算法，将缺陷图片做成训练集与测试集对神经网络进行训练与测试；最终实现光学元件的实时偏振成像与实时缺陷检测。本发明能够抑制高光现象，对具有高反射性和高投射性的透明元件的缺陷特征进行实时的高对比度成像，并利用基于卷积神经网络的缺陷识别算法，获得识别速度达微秒级、准确率在98%以上的光学元件缺陷自动检测。
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公开(公告)号：CN115855305B
公开(公告)日：2025-05-09
申请号：CN202211622816.9
申请日：2022-12-16
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种基于荧光寿命型与热辐射型光纤温度传感器的测温装置，包括光探头、荧光寿命测温模块、光功率计和数据处理单元；所述光探头通过耐高温传输光纤与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接；所述数据处理单元与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接。本发明克服荧光寿命型光纤传感器由于高温下的荧光淬灭只能运用于低温段测温的问题，以及辐射型光纤温度传感器在低温段辐射信号弱、环境因素影响大、无法准确测温的问题，解决冶金等行业的实时温度监测问题，实现当前中频冶炼炉、铝冶炼过程和电解过程的实时温度监测需要。
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公开(公告)号：CN115855305A
公开(公告)日：2023-03-28
申请号：CN202211622816.9
申请日：2022-12-16
Applicant: 福州大学
Abstract: 本发明涉及一种基于荧光寿命型与热辐射型光纤温度传感器的测温装置，包括光探头、荧光寿命测温模块、光功率计和数据处理单元；所述光探头通过耐高温传输光纤与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接；所述数据处理单元与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接。本发明克服荧光寿命型光纤传感器由于高温下的荧光淬灭只能运用于低温段测温的问题，以及辐射型光纤温度传感器在低温段辐射信号弱、环境因素影响大、无法准确测温的问题，解决冶金等行业的实时温度监测问题，实现当前中频冶炼炉、铝冶炼过程和电解过程的实时温度监测需要。
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