基于偏振成像和机器学习的光学元件自动检测系统及方法

    公开(公告)号:CN113256576A

    公开(公告)日:2021-08-13

    申请号:CN202110537692.3

    申请日:2021-05-18

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于偏振成像和机器学习的光学元件自动检测系统及方法,通过将暗场成像与分焦平面技术的偏振度成像方法相结合,抑制光学元件的高光现象和环境杂散光,获得高质量的元件缺陷成像;再利用卷积神经网络构建缺陷识别算法,将缺陷图片做成训练集与测试集对神经网络进行训练与测试;最终实现光学元件的实时偏振成像与实时缺陷检测。本发明能够抑制高光现象,对具有高反射性和高投射性的透明元件的缺陷特征进行实时的高对比度成像,并利用基于卷积神经网络的缺陷识别算法,获得识别速度达微秒级、准确率在98%以上的光学元件缺陷自动检测。

    基于偏振成像和机器学习的光学元件自动检测系统及方法

    公开(公告)号:CN113256576B

    公开(公告)日:2022-10-28

    申请号:CN202110537692.3

    申请日:2021-05-18

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于偏振成像和机器学习的光学元件自动检测系统及方法,通过将暗场成像与分焦平面技术的偏振度成像方法相结合,抑制光学元件的高光现象和环境杂散光,获得高质量的元件缺陷成像;再利用卷积神经网络构建缺陷识别算法,将缺陷图片做成训练集与测试集对神经网络进行训练与测试;最终实现光学元件的实时偏振成像与实时缺陷检测。本发明能够抑制高光现象,对具有高反射性和高投射性的透明元件的缺陷特征进行实时的高对比度成像,并利用基于卷积神经网络的缺陷识别算法,获得识别速度达微秒级、准确率在98%以上的光学元件缺陷自动检测。

    基于缓变透过率二向色镜的多色荧光涨落成像系统及方法

    公开(公告)号:CN116774418A

    公开(公告)日:2023-09-19

    申请号:CN202310738842.6

    申请日:2023-06-21

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及基于缓变透过率二向色镜的多色荧光涨落成像系统及方法,它包括:采用多种波长量子点荧光标记不同亚细胞器结构,并使用单一波长激发光进行激发获得多色荧光信号;采用基于缓变透过率二向色镜对所述多色荧光信号进行分光,并用单相机同时采集反射通道与透射通道的多色荧光信号;采用基于高阶相关函数计算的方法分离不同波长荧光信号;采用多波长通道信号相互迭代的方式降低不同通道之间串色;采集基于荧光涨落的超分辨成像方法对降低串色后的不同波长的图像进行超分辨算法处理,得到不同亚细胞器精细结构的高分辨率图像。最终通过单波长激发、双通道信号的单相机采集,多色荧光信号的分离,实现不同亚细胞器结构的同步多色超分辨成像。

    基于荧光寿命型与热辐射型光纤温度传感器的测温装置

    公开(公告)号:CN115855305A

    公开(公告)日:2023-03-28

    申请号:CN202211622816.9

    申请日:2022-12-16

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于荧光寿命型与热辐射型光纤温度传感器的测温装置,包括光探头、荧光寿命测温模块、光功率计和数据处理单元;所述光探头通过耐高温传输光纤与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接;所述数据处理单元与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接。本发明克服荧光寿命型光纤传感器由于高温下的荧光淬灭只能运用于低温段测温的问题,以及辐射型光纤温度传感器在低温段辐射信号弱、环境因素影响大、无法准确测温的问题,解决冶金等行业的实时温度监测问题,实现当前中频冶炼炉、铝冶炼过程和电解过程的实时温度监测需要。

    基于荧光寿命型与热辐射型光纤温度传感器的测温装置

    公开(公告)号:CN115855305B

    公开(公告)日:2025-05-09

    申请号:CN202211622816.9

    申请日:2022-12-16

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于荧光寿命型与热辐射型光纤温度传感器的测温装置,包括光探头、荧光寿命测温模块、光功率计和数据处理单元;所述光探头通过耐高温传输光纤与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接;所述数据处理单元与荧光寿命测温模块、光功率计分别连接。本发明克服荧光寿命型光纤传感器由于高温下的荧光淬灭只能运用于低温段测温的问题,以及辐射型光纤温度传感器在低温段辐射信号弱、环境因素影响大、无法准确测温的问题,解决冶金等行业的实时温度监测问题,实现当前中频冶炼炉、铝冶炼过程和电解过程的实时温度监测需要。

    基于双折晶体透镜的自干涉数字全息成像系统

    公开(公告)号:CN118112909A

    公开(公告)日:2024-05-31

    申请号:CN202410287981.6

    申请日:2024-03-13

    Applicant: 福州大学

    Abstract: 本发明涉及一种基于双折晶体透镜的自干涉数字全息成像系统。通过使用非相干光源照明去除激光照明带来的激光散斑对图像质量的影响,提升成像质量。通过α‑BBO双折射晶体透镜的偏振特性与四分之一波片和偏振相机的组合实现单发成像、快速成像。本发明克服激光散斑带来图像劣化的问题与使用激光照明对人脸、动物成像时带来的安全隐患,解决非相干照明情况下共轴光路的光程差补偿问题,实现对于日常物体的较大视场彩色3D成像的需要。

Patent Agency Ranking