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公开(公告)号:CN119509702A
公开(公告)日:2025-02-25
申请号:CN202411620345.7
申请日:2024-11-13
Applicant: 福州大学
IPC: G01J4/04
Abstract: 本发明涉及一种通过应力调控实现光的圆偏振度探测的方法,属于偏振探测技术领域。所述方法采用蓝宝石衬底上生长的Bi2Te3/Fe4GeTe2异质结薄膜作为偏振探测器件,通过外加张应力exc将偏振探测器件的线偏振响应调为零。将施加张应力exc时正负45度入射角下的总光电流与背景电流比值随四分之一波片转角作为校准数据,通过将待测激光在正负45度入射角下的总光电流与背景电流的比值与校准数据进行对比,获得待测光的圆偏振度。本发明测量结果准确,简洁高效,可行性高,有利于日后推广应用。