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公开(公告)号：CN117590113A
公开(公告)日：2024-02-23
申请号：CN202311506790.6
申请日：2023-11-13
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 卢健强
Abstract: 本申请公开了一种浪涌测试装置及浪涌测试设备，属于电力电子技术领域。该浪涌测试装置运用于I/V测试系统，其工作模式包括I/V测试模式和浪涌测试模式；其包括耦合及去耦模块，耦合及去耦模块的第一端连接I/V测试装置，耦合及去耦模块的第二端连接被测元件，耦合及去耦模块用于在I/V测试模式下实现I/V测试装置和被测元件之间的连接，以及在浪涌测试模式下实现I/V测试装置和浪涌测试装置之间的去耦与浪涌测试装置和被测元件之间的耦合。本申请解决了在进行浪涌测试前后，需要手动切换被测元件与I/V测试设备以及浪涌测试设备的连接的问题，实现了I/V测试设备和浪涌测试设备自动切换连接，省略了繁琐的连接过程。
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公开(公告)号：CN118393314A
公开(公告)日：2024-07-26
申请号：CN202410351405.3
申请日：2024-03-26
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 卢健强
Abstract: 本发明公开一种多通道电流测试装置，涉及电流测试技术领域。该多通道电流测试装置包括电流测试组件、多通道切换组件与控制电路。其中，多通道切换组件分别与电流测试组件和N个被测单元连接，控制电路分别与电流测试组件和多通道切换组件连接，电流测试组件用于测试N个被测单元的电流。当需要进行大量通道的电流测试时，控制电路可以控制多通道切换组件的工作，以切换电流测试组件与N个被测单元之间接通的测试通道，则电流测试组件可以测试接通的多个测试通道的被测单元的电流。如此，本发明可以实现大量通道的电流测试。
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公开(公告)号：CN222189426U
公开(公告)日：2024-12-17
申请号：CN202420605666.9
申请日：2024-03-26
Applicant: 矽电半导体设备(深圳)股份有限公司
Inventor： 卢健强
Abstract: 本实用新型公开一种多通道电流测试装置，包括电流测试组件、多通道切换组件与控制电路。其中，多通道切换组件分别与电流测试组件和N个被测单元连接，控制电路分别与电流测试组件和多通道切换组件连接，电流测试组件用于测试N个被测单元的电流。当需要进行大量通道的电流测试时，控制电路可以控制多通道切换组件的工作，以切换电流测试组件与N个被测单元之间接通的测试通道，则电流测试组件可以测试接通的多个测试通道的被测单元的电流。如此，本实用新型可以实现大量通道的电流测试。
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