一种带电粒子探测装置
    1.
    发明授权

    公开(公告)号:CN107342205B

    公开(公告)日:2019-07-23

    申请号:CN201610285009.0

    申请日:2016-05-03

    发明人: 罗浒 张旭

    IPC分类号: H01J37/244

    摘要: 本发明提供了一种带电粒子的探测装置,该带电粒子探测装置包括:网格电极,用于吸引带电粒子;转换电极,用于会聚带电粒子,以及当所述带电粒子为二次离子时,将所述二次离子转换为二次电子,其中,所述转换电极的粒子入口的面积小于粒子出口的面积;电子探测单元,用于吸收二次电子并将探测信号放大输出;屏蔽外壳。根据本发明的带电粒子探测装置,能够大大提高对来自样品的二次离子和二次电子的探测效率,且结构简单,易于实现,能够大大降低制作难度和成本。

    一种带电粒子探测装置
    2.
    发明公开

    公开(公告)号:CN107342205A

    公开(公告)日:2017-11-10

    申请号:CN201610285009.0

    申请日:2016-05-03

    发明人: 罗浒 张旭

    IPC分类号: H01J37/244

    摘要: 本发明提供了一种带电粒子的探测装置,该带电粒子探测装置包括:网格电极,用于吸引带电粒子;转换电极,用于会聚带电粒子,以及当所述带电粒子为二次离子时,将所述二次离子转换为二次电子,其中,所述转换电极的粒子入口的面积小于粒子出口的面积;电子探测单元,用于吸收二次电子并将探测信号放大输出;屏蔽外壳。根据本发明的带电粒子探测装置,能够大大提高对来自样品的二次离子和二次电子的探测效率,且结构简单,易于实现,能够大大降低制作难度和成本。