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公开(公告)号:CN1764980A
公开(公告)日:2006-04-26
申请号:CN200480007879.7
申请日:2004-03-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: P·H·沃尔里 , W·R·科珀斯 , H·C·F·马坦斯 , R·J·A·范登奥特拉亚尔
IPC: G11B27/19
CPC classification number: G11B20/1217 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B27/105 , G11B27/24 , G11B2020/1239 , G11B2020/1265 , G11B2020/1269 , G11B2220/216 , G11B2220/218 , G11B2220/235 , G11B2220/2537
Abstract: 一种多层记录载体用于通过在轨迹中写入代表可寻址块的标记来记录信息。每个记录层包括预先形成的用于指示轨迹的记录控制图案,所述图案包括指示相对于轨迹开始点的物理地址的物理位置的物理地址(59)。物理地址的预定数量的位用于指示相对于轨迹开始点的物理位置。所述物理地址的预定数量的地址位中的至少一个地址位被分配作为层地址位(60),其具有指示记录层的值。一种记录设备具有用于根据层地址位检测记录层的层单元(34)。
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公开(公告)号:CN1764953A
公开(公告)日:2006-04-26
申请号:CN200480007900.3
申请日:2004-03-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: W·R·科珀斯 , P·H·沃尔里 , H·C·F·马坦斯 , R·J·A·范登奥特拉亚尔 , J·L·巴克西
CPC classification number: G11B7/00736 , G11B7/094 , G11B7/0945 , G11B7/24038 , G11B7/24082 , G11B2007/0013
Abstract: 一种通过在记录层上的轨迹中写入标记来记录信息的记录载体。用于记录信息的最短标记的长度等于预定最小数d个的通道位长度。记录载体(11)具有预刻沟槽,此预刻沟槽由包含长标记(18,19)的载体图案进行调制,该长标记(18,19)在记录层的预定位置处提供调焦区域(12)。长标记的长度至少是最短标记长度的2倍,并基本上长于扫描点的有效直径。扫描设备定位调焦区域并在扫描载体图案时通过检测出最大的读出信号幅值来确定出最佳的焦距偏移。
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公开(公告)号:CN100383865C
公开(公告)日:2008-04-23
申请号:CN200480007841.X
申请日:2004-03-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: P·H·沃尔里 , W·R·科珀斯 , H·C·F·马坦斯 , R·J·A·奥特拉亚尔 , J·H·M·斯普鲁伊特
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B7/24085 , G11B27/19 , G11B27/24
Abstract: 一种记录载体,用于通过在轨道上经过写入标记来记录信息。记录载体至少具有第一记录层(40)和第二记录层(41)。每一记录层都具有表示轨道位置的一个预设凹槽(14),预设凹槽呈现代表物理地址信息的摆动调制的性质。此外,预设凹槽具有预设凹槽调制(13),所说预设凹槽调制由与预设凹槽形状有关的物理参数的变化组成,用于编码辅助控制信息。在扫描设备中,预设凹槽调制是通过反射辐射的变化用主检测器信号进行检测的。
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公开(公告)号:CN1764952A
公开(公告)日:2006-04-26
申请号:CN200480007841.X
申请日:2004-03-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor: P·H·沃尔里 , W·R·科珀斯 , H·C·F·马坦斯 , R·J·A·奥特拉亚尔 , J·H·M·斯普鲁伊特
IPC: G11B7/007
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B7/24085 , G11B27/19 , G11B27/24
Abstract: 一种记录载体,用于通过在轨道上经过写入标记来记录信息。记录载体至少具有第一记录层(40)和第二记录层(41)。每一层都具有表示轨道位置的一个预设凹槽(14),预设凹槽呈现代表物理地址信息的摆动调制的性质。此外,预设凹槽具有预设凹槽调制(13),所说预设凹槽调制由与预设凹槽形状有关的物理参数的变化组成,用于编码辅助控制信息。在扫描设备中,预设凹槽调制是通过反射辐射的变化用主检测器信号进行检测的。
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