公开(公告)号：CN1555486A

公开(公告)日：2004-12-15

申请号：CN02818197.2

申请日：2002-09-04

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： C·H·H·埃蒙斯 ,  H·G·R·马亚斯 ,  T·M·米奇埃森 ,  R·德科 ,  A·J·詹森 ,  I·A·林克

IPC: G01N23/22 ,  G01N23/20 ,  H01L21/58

CPC classification number: G01N23/225 ,  G01N23/223 ,  G01N2223/076 ,  H01L22/12

Abstract: 一种利用X射线检查晶体半导体材料的晶片的方法，其中利用X射线束扫描该晶片的表面，并检测所述X射线束产生的二次辐射。在检查之前，将X射线束在检查过程中将要扫描的晶片表面粘接到一衬底，随后从该晶片被暴露的一侧去除晶体半导体材料，去除一直进行到与表面相邻的顶层。从而可以检查顶层，而该检查不会受到位于顶层以下的晶片层中出现的晶体缺陷或杂质的影响。

公开(公告)号：CN101438093A

公开(公告)日：2009-05-20

申请号：CN200580039602.7

申请日：2005-11-15

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： E·J·梅杰 ,  R·德科 ,  E·蒂默林 ,  C·G·A·霍伦 ,  J·P·M·安森斯

IPC: F21S2/00 ,  F21V23/00 ,  H05B37/02 ,  F21Y101/02

CPC classification number: F21V23/0442 ,  F21S10/02 ,  F21V23/0457 ,  F21Y2115/10 ,  G01J1/04 ,  G01J1/0411 ,  G01J1/0414 ,  G01J1/32 ,  G02B19/0028 ,  G02B19/0066 ,  G02B19/0085 ,  H01L25/167 ,  H01L2924/0002 ,  H05B33/0869 ,  H05B37/029 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明涉及一种光源，其包括发射至少一种颜色光的LED的阵列，以及用于控制该光源的光输出的控制系统。该控制系统包括用于检测该光源的光输出的光敏元件阵列。成像单元设置在该光敏元件阵列的前面以便其将所述LED阵列的图像映射到所述光敏元件阵列上。将该光敏元件阵列分为多个子区域，每个子区域检测从单个LED输出的光。该控制系统将该子区域的输出用于控制该光源光输出。由此，能够对不同LED光颜色或各个LED的光输出起作用而不必通过时间脉冲方法将其在时间上分离。