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公开(公告)号：CN1864209A
公开(公告)日：2006-11-15
申请号：CN200480029573.1
申请日：2004-10-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： H·C·F·马坦斯 , A·M·J·M·斯普鲁特 , M·康塞穆德 , P·H·沃尔利 , W·R·科帕斯
CPC classification number: G11B7/24082 , G11B7/094 , G11B7/24038
Abstract: 记录载体用于通过在记录层的轨迹中写标记来记录信息。用于记录信息的最短标记具有预定数量d的信道比特长度的长度。记录载体(11)具有预制槽，该预制槽利用包含聚焦标记(18，19)的载体图案进行调制，在记录层的预定位置上提供聚焦区域(12)。这些聚焦标记具有的长度至少为最短标记长度的两倍，以便实质上长于扫描点的有效直径。扫描设备查找聚焦区域的位置，并通过在扫描载体图案的同时检测最大读取信号振幅来确定最佳聚焦偏移。
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公开(公告)号：CN100538834C
公开(公告)日：2009-09-09
申请号：CN200580043829.9
申请日：2005-12-13
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： J·H·M·斯普鲁特 , H·C·F·马滕斯 , S·斯塔林加 , P·H·沃尔利
CPC classification number: G11B7/24038 , G11B7/0948 , G11B7/13
Abstract: 本发明涉及用于多层记录载体的检测器装置、拾取设备以及驱动设备，其中为了抑制串扰效应提供主光束检测器装置和布置在主光束检测器装置相对侧的两对副光束检测器装置。举例来说，获得的两个三光斑系统可以分别用于聚焦误差信号和跟踪误差信号，其中可以对附属光斑进行控制以具有与主光束同相或者反相的所希望的条纹图案。除了减少聚焦或者跟踪误差之外，上述方案还允许减少间隔层的厚度。
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公开(公告)号：CN1864212A
公开(公告)日：2006-11-15
申请号：CN200480029334.6
申请日：2004-10-06
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： H·C·F·马坦斯 , B·蒂克 , P·H·沃尔利 , R·J·A·范登奥特拉阿 , W·R·可帕斯
IPC: G11B7/24
CPC classification number: G11B7/24038
Abstract: 描述了一种用于一次写入记录的双叠层光学数据存储介质(10)，它利用波长λ约为655纳米的聚焦辐射光束(9)。辐射光束在记录期间射入介质(10)入射面(8)。该介质包含：至少一个基片(1，7)，在其一个面上有：一个名为L0的第一记录叠层(6)，包含一次写入型L0记录层，所述第一记录叠层L0的光反射值为RL0而光透射值为TL0；一个名为L1的第二记录叠层(3)，包含一次写入型L1记录层，所述第二记录叠层L1的有效光反射值为RL1eff。第一记录叠层(6)所处的位置比第二记录叠层(3)更靠近入射面(8)。一个夹在记录叠层(3，6)之间的透明隔层(4)。反射率RL0和RL1eff外在下列范围内：0.12≤RL0≤0.18和0.12≤RL1eff≤0.18，由此达到了双叠层介质的改进了的灵敏度。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1954372B
公开(公告)日：2010-05-12
申请号：CN200580015683.7
申请日：2005-05-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·J·A·范登奥特拉尔 , H·C·F·马坦斯 , W·R·科帕斯 , P·H·沃尔利
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/00456 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明涉及一种用于通过使用辐射功率在记录介质的至少两个层上记录数据的记录设备、记录载体和方法，其中在不同的辐射功率值下对所述至少两个层的各个层确定单独的记录速度。基于为记录操作规定的最大辐射功率选择将用于在所述至少两个记录层的单独层上进行记录的记录速度，并根据选择的记录速度对所述至少两个层中的每一个单独控制记录操作的速度。可将在不同辐射功率值下的单独记录速度的确定值写在或模压在记录载体上。另外，可根据敏感度并由此根据记录速度来设置用于在记录层上进行记录的记录顺序。由此，对于多层记录介质来说可使总记录时间最小化。
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公开(公告)号：CN101084542A
公开(公告)日：2007-12-05
申请号：CN200580043829.9
申请日：2005-12-13
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： J·H·M·斯普鲁特 , H·C·F·马滕斯 , S·斯塔林加 , P·H·沃尔利
CPC classification number: G11B7/24038 , G11B7/0948 , G11B7/13
Abstract: 本发明涉及用于多层记录载体的检测器装置、拾取设备以及驱动设备，其中为了抑制串扰效应提供主光束检测器装置和布置在主光束检测器装置相对侧的两对副光束检测器装置。举例来说，获得的两个三光斑系统可以分别用于聚焦误差信号和跟踪误差信号，其中可以对附属光斑进行控制以具有与主光束同相或者反相的所希望的条纹图案。除了减少聚焦或者跟踪误差之外，上述方案还允许减少间隔层的厚度。
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公开(公告)号：CN101006517A
公开(公告)日：2007-07-25
申请号：CN200580027652.3
申请日：2005-06-09
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11C16/02
CPC classification number: G11C13/0011 , B82Y10/00 , G11C13/0004 , G11C13/0014 , H01L27/2409 , H01L45/06 , H01L45/085 , H01L45/1233 , H01L45/1266 , H01L45/143 , H01L45/144 , H01L45/1625 , H01L45/1641 , H01L45/1675
Abstract: 本发明涉及一种电气器件(图6)，其具有与穿通二极管(S)串联连接的可编程电阻器(PR)。本发明也涉及一种制造这种电气器件的方法。该方法包括步骤：提供叠层，该叠层包括设置在第二导电率类型半导体材料的第二层和第三层之间的第一导电率类型半导体材料的第一层，其中第二导电率类型与第一导电率类型相反，并提供一层具有可编程电阻率的材料，具有可编程电阻率的该材料层与所述半导体材料的第二和第三层之一电接触。
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公开(公告)号：CN1954372A
公开(公告)日：2007-04-25
申请号：CN200580015683.7
申请日：2005-05-10
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： R·J·A·范登奥特拉尔 , H·C·F·马坦斯 , W·R·科帕斯 , P·H·沃尔利
CPC classification number: G11B7/0045 , G11B7/00456 , G11B7/00736 , G11B7/24038 , G11B2007/0013
Abstract: 本发明涉及一种用于通过使用辐射功率在记录介质的至少两个层上记录数据的记录设备、记录载体和方法，其中在不同的辐射功率值下对所述至少两个层的各个层确定单独的记录速度。基于为记录操作规定的最大辐射功率选择将用于在所述至少两个记录层的单独层上进行记录的记录速度，并根据选择的记录速度对所述至少两个层中的每一个单独控制记录操作的速度。可将在不同辐射功率值下的单独记录速度的确定值写在或模压在记录载体上。另外，可根据敏感度并由此根据记录速度来设置用于在记录层上进行记录的记录顺序。由此，对于多层记录介质来说可使总记录时间最小化。
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公开(公告)号：CN1942864A
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN200580011258.0
申请日：2005-04-04
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G06F11/10
CPC classification number: G06F11/1008
Abstract: 提供一种数据处理设备，该设备具有数据存储器(10)，该存储器具有地址输入和数据输出，用于输出多比特字。该数据存储器(10)具有在字组的字中的相关位置上引起潜在错误的结构。擦除存储电路(16)存储和字组相关联的比特位置信息，并在数据存储器(10)中寻址其比特位置信息被存储的组中的字时，输出该比特位置信息。错误校正和检测单元(12)被安排为：对于在利用比特位置信息选定的比特位置上的比特使用错误擦除，校正数据存储器(10)中的字，其中该比特位置信息来自这些字所属的组的擦除存储单元(16)。
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