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公开(公告)号：CN1662971A
公开(公告)日：2005-08-31
申请号：CN03814047.0
申请日：2003-06-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： G·R·兰格雷斯
IPC: G11B7/125
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00456 , G11B7/1267
Abstract: 公开了用于确定在光记录载体上记录信息的一组记录脉冲串参数的方法。首先，利用参数的值在记录载体上写入一系列测试图案。在读测试图案的基础上，确定每个读信号的抖动值。参数的优化值根据该组记录脉冲串参数值和相对抖动值之间的线性相关性导出。本发明还涉及用于执行该方法的设备。本发明进一步涉及一种光记录载体，包括利用根据本发明的方法确定的优化记录功率。
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公开(公告)号：CN1308931C
公开(公告)日：2007-04-04
申请号：CN02816493.8
申请日：2002-07-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B7/013
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/00455 , G11B7/013
Abstract: 本发明涉及光记录载体记录方法，该方法用于通过将辐射束(12)引导至光记录载体(20)的记录表面(21)上来形成凹区和凸区。对于每个将被记录的凹区，辐射束被设定到至少一个能够在写功率照射周期(31)内形成凹区的写功率电平(PW)，并且对于凹区之间的每个凸区，辐射束被设定到至少一个在底功率照射周期(51)内不能形成凹区的底功率电平(P0)。为了在不增加整体抖动的条件下将附加LML通道的位嵌入主通道，根据本发明提出在用于形成LML凸区的LML凸区照射周期(55)内将底功率电平(P0)临时增加到LML凸区功率电平(P11)，该LML凸区功率电平(P11)接近于写功率电平(PW)，以及在用于形成LML凹区的LML凹区照射周期(35)内将写功率电平(PW)临时降低到LML凹区功率电平(Pp1)，该LML凹区功率电平(Pp1)接近于底功率电平(P0)。
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公开(公告)号：CN100454406C
公开(公告)日：2009-01-21
申请号：CN200480017702.5
申请日：2004-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/125
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00456 , G11B7/00736
Abstract: 本发明涉及一种减小光学介质上最佳写入参数控制过程(OPC)所占用的区域的方法和执行这种方法的装置。这种方法使用了一个用一组参考写入参数写入的参考数据图形和一个用一组测量写入参数写入的测量数据图形。
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公开(公告)号：CN1547736A
公开(公告)日：2004-11-17
申请号：CN02816493.8
申请日：2002-07-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/0045 , G11B7/125 , G11B7/013
CPC classification number: G11B7/126 , G11B7/00455 , G11B7/013
Abstract: 本发明涉及光记录载体记录方法，该方法用于通过将辐射束(12)引导至光记录载体(20)的记录表面(21)上来形成凹区和凸区。对于每个将被记录的凹区，辐射束被设定到至少一个能够在写功率照射周期(31)内形成凹区的写功率电平(Pw)，并且对于凹区之间的每个凸区，辐射束被设定到至少一个在底功率照射周期(51)内不能形成凹区的底功率电平(P0)。为了在不增加整体抖动的条件下将附加LML通道的位嵌入主通道，根据本发明提出在用于形成LML凸区的LML凸区照射周期(55)内将底功率电平(P0)临时增加到LML凸区功率电平(P11)，该LML凸区功率电平(P11)接近于写功率电平(Pw)，以及在用于形成LML凹区的LML凹区照射周期(35)内将写功率电平(Pw)临时降低到LML凹区功率电平(Pp1)，该LML凹区功率电平(Pp1)接近于底功率电平(P0)。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN1316479C
公开(公告)日：2007-05-16
申请号：CN03814047.0
申请日：2003-06-20
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： G·R·兰格雷斯
IPC: G11B7/125
CPC classification number: G11B7/0062 , G11B7/00456 , G11B7/1267
Abstract: 公开了用于确定在光记录载体上记录信息的一组记录脉冲串参数的方法。首先，利用参数的值在记录载体上写入一系列测试图案。在读测试图案的基础上，确定每个读信号的抖动值。参数的优化值根据该组记录脉冲串参数值和相对抖动值之间的线性相关性导出。本发明还涉及用于执行该方法的设备。本发明进一步涉及一种光记录载体，包括利用根据本发明的方法确定的优化记录功率。
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公开(公告)号：CN1947187A
公开(公告)日：2007-04-11
申请号：CN200480034942.6
申请日：2004-11-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/125 , G11B7/0045 , G11B20/10 , G11B20/14
CPC classification number: G11B20/1426 , G11B20/10009 , G11B20/10037 , G11B20/10481 , G11B2020/1457 , G11B2020/1461 , G11B2220/216 , G11B2220/218 , G11B2220/2541 , G11B2220/2545 , G11B2220/2562
Abstract: 一种光盘刻写参数优化方法，包括步骤：获取标记游程长度的变化量；根据标记游程长度的变化量与参数的变化量之间的关系，确定参数的调整量；调整所述参数值。这种优化方法适用于多种光盘系统，刻写过程可以采用多种刻写策略，可以对多个激光脉冲的功率或者起止时间进行优化，从而使标记游程长度达到优化目标。
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公开(公告)号：CN1836276A
公开(公告)日：2006-09-20
申请号：CN200480023243.1
申请日：2004-08-11
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
CPC classification number: G11B7/24079 , G11B7/00718 , G11B7/24 , G11B7/24088
Abstract: 当在轨道中或以二维图案记录信息时，必须注意不照射邻近的轨道或凹坑。由于必须要观察到轨道间距或凹坑距离，所以这导致记录介质上数据密度的损失。有可能将轨道间距减小至这样的点：其中激光的焦斑还照射邻近脊区域以及轨道或凹坑。这提高了记录介质的可实现的数据密度。通过使用凹槽和/或通过使用具有特殊吸收特性的染料，邻近轨道的照射效应能够得到减小，从而仅在期望的位置有效地记录标记。
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公开(公告)号：CN1823376A
公开(公告)日：2006-08-23
申请号：CN200480020633.3
申请日：2004-07-15
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
Inventor： G·E·N·施雷尔斯 , G·R·兰格雷斯
CPC classification number: G11B11/10595 , G11B7/00458 , G11B7/1263 , G11B7/1267 , G11B11/10502 , G11B20/10212 , G11B20/10425 , G11B2020/10972 , G11B2020/1288 , G11B2220/2541
Abstract: 用来在记录载体上的轨道中记录信息的设备对标记和间隔进行写入和读取，标记和间隔中的每一个均具有标称游程长度。该设备具有产生带符号的偏移值信号(34)的检测单元(32)，所述信号(34)表示标记的起始边缘和/或标记的终止边缘相对于所述边缘的标称位置的位置偏移。计算单元(31)选择至少一个预定的游程长度图案，并根据所选择的游程长度图案的带符号的偏移值信号的至少一个统计计算的参数确定校正信号(33)。辐射源控制单元(29)根据所述校正信号，在所述写入期间，控制所述辐射源的功率。
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公开(公告)号：CN1813294A
公开(公告)日：2006-08-02
申请号：CN200480017702.5
申请日：2004-06-22
Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司
IPC: G11B7/125
CPC classification number: G11B7/1267 , G11B7/00456 , G11B7/00736
Abstract: 本发明涉及一种减小光学介质上最佳写入参数控制过程(OPC)所占用的区域的方法和执行这种方法的装置。这种方法使用了一个用一组参考写入参数写入的参考数据图形和一个用一组测量写入参数写入的测量数据图形。
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