公开(公告)号：CN101199007A

公开(公告)日：2008-06-11

申请号：CN200680021451.7

申请日：2006-06-09

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： R·J·M·武勒斯 ,  B·范罗姆佩伊 ,  A·米杰里特斯基 ,  D·J·阿德勒霍夫 ,  A·E·T·凯帕 ,  J·G·F·卡布劳

IPC: G11B7/0037 ,  G11B7/0045 ,  G11B23/40

CPC classification number: G11B23/40 ,  B41J3/4071 ,  G11B7/0037 ,  G11B7/0045 ,  G11B7/24038

Abstract: 本发明涉及一种在光学记录介质(10至38)上写入信息的方法，该光学记录介质具有至少一个数据层(40)，用于存储可通过使用光学读出设备来读取的数据，以及至少一个标签层(42)，用于存储可见的信息，该方法包括下列步骤：将第一波长的激光束(44至58)聚焦在所述至少一个数据层上，以用于在数据层上写入数据，以及将第二波长的激光束(60至78)聚焦在所述至少一个标签层上，可以使用一种激光斑尺寸在标签层上写入可见的信息，该激光斑尺寸在使用第二波长的激光束在存储可通过使用光学读出设备来读取的数据的数据层上写入数据时也是可使用的。本发明还涉及一种光学记录介质以及制造光学记录介质的方法。

公开(公告)号：CN101053023A

公开(公告)日：2007-10-10

申请号：CN200580037903.6

申请日：2005-10-28

Applicant: 皇家飞利浦电子股份有限公司

Inventor： M·范德夫卢坦 ,  J·H·M·斯普鲁特 ,  D·J·阿德勒霍夫 ,  P·A·M·范多斯特 ,  R·J·G·埃尔弗林克

IPC: G11B7/006

CPC classification number: G11B7/0062

Abstract: 描述了一种用于设置在光学记录设备中使用的写入功率电平最佳数值的方法，该光学记录设备通过辐射束(5)在光记录介质(1)的记录层(3)上写入信息。记录层可在非晶态和晶态之间变化。设备包括辐射源(4)，发射出具有可控写入功率电平(Pw)值的辐射束(5)，用于在记录介质上记录信息，控制单元(12)，在记录层的测试区域中记录一系列测试图案，每个测试图案利用不同值的写入功率电平来进行记录，读取单元(90)，读取该图案并形成相应的读取信号部分，和第一装置(10，101，102)，从至少一个读取信号部分得到读取参数的数值，并在该读取参数数值的基础上设置写入功率电平的最佳数值(Popt)。根据本发明的设备还包括第二装置，执行至少使部分记录层非晶化并随后使记录层重结晶的至少一个初始步骤(40)。以此方式得到一致的结果，用于确定写入功率电平(Pw)的最佳数值(Popt)。