知搜-全球专利检索

  1. 登录
  2. 注册

搜索结果

31 条记录 (耗时 0.028 秒)

    基于量子点多孔硅膜的辐射探测器
    1.
    发明公开
    基于量子点多孔硅膜的辐射探测器 有权

    公开(公告)号：CN113874759A

    公开(公告)日：2021-12-31

    申请号：CN202080022566.8

    申请日：2020-03-16

    申请人： 皇家飞利浦有限公司 ,  韦恩州立大学

    发明人： M·A·查波 ,  S·L·布罗克

    IPC分类号： G01T1/20 ,  G01T1/24

    摘要： 一种用于辐射探测器(400)的探测层(416)包括多孔硅膜(418)。多孔硅膜包括：具有第一侧面(430)和第二相反侧面(432)的硅(419)；从第一侧面到第二相反侧面完全延伸穿过硅的多个孔(420)，每个孔包括共用的壁(426)；至少一个硅突出部(424)，其从第一侧面向外突出并延伸一定的距离(504，604，704)。多孔硅膜还包括位于孔内的多个辐射敏感量子点(422)和被设置在第一侧面上且具有表面(434)和厚度(506，606，706)的量子点层，其中厚度大于距离。

    模块化成像检测器ASIC
    2.
    发明公开
    模块化成像检测器ASIC 有权

    公开(公告)号：CN106659451A

    公开(公告)日：2017-05-10

    申请号：CN201580031219.0

    申请日：2015-05-19

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： M·A·查波 ,  R·戈申

    IPC分类号： A61B6/03

    CPC分类号： H01L27/14663 ,  G01T1/2018 ,  H01L27/146 ,  H01L27/14658 ,  H01L27/14661 ,  H01L27/14687 ,  H01L27/1469 ,  A61B6/03 ,  A61B6/4208 ,  A61B6/44

    摘要： 一种成像系统检测器阵列(112)包括检测器平铺件(116)。所述检测器平铺件包括光传感器阵列(202)，所述光传感器阵列包括多个光敏像素(204)。所述检测器平铺件还包括与所述光传感器阵列光学地耦合的闪烁体阵列(212)。所述检测器平铺件还包括与所述光传感器阵列电联接的位于基底(214)上的电子器件层或ASIC。所述电子器件层包括多个单独的且可分割的处理区域(302)。每个处理区域包括与所述多个光敏像素的子集相对应的预定数目的通道。所述处理区域彼此电通信。每个处理区域包括其自己的参考电路(802)和偏置电路(804)。

    具有整体通孔互连件的辐射探测器闪烁体
    3.
    发明授权
    具有整体通孔互连件的辐射探测器闪烁体 有权

    公开(公告)号：CN109891269B

    公开(公告)日：2023-11-10

    申请号：CN201780065886.X

    申请日：2017-10-18

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： M·A·查波

    IPC分类号： G01T1/20 ,  G01T1/202

    摘要： 一种闪烁体层(206)，包括：多个闪烁体像素(337)、围绕所述多个闪烁体像素中的每个闪烁体像素的非闪烁材料(336)的壁、以及针对像素的至少一个导电互连件(224)，其中，所述至少一个导电互连件在所述像素的壁内沿着所述壁的整个深度延伸。多能量探测器阵列(114)包括探测器拼片(116)，所述探测器拼片具有上部闪烁体层(202)、被光学地耦合到所述上部闪烁体层的上部光电传感器(204)、被电学地耦合到所述上部光电传感器的下部闪烁体层(206)，以及被光学地和电学地耦合到所述下部闪烁体层的下部光电传感器(208)。所述下部闪烁体层包括由非闪烁材料(336)的至少一个壁围绕的至少一个闪烁体像素(337)，并且所述壁包括从所述壁的顶部边缘延伸到所述壁的底部边缘的至少一个导电互连件(224)。

    具有整体像素边界的纳米材料成像探测器
    4.
    发明授权
    具有整体像素边界的纳米材料成像探测器 有权

    公开(公告)号：CN108885273B

    公开(公告)日：2023-09-08

    申请号：CN201780019032.8

    申请日：2017-03-15

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： M·A·查波

    IPC分类号： G01T1/16 ,  G01T1/29

    摘要： 一种成像系统(100)的辐射探测器阵列(112)包括多个探测器模块(114)，所述多个探测器模块中的每个包括多个探测器像素(116)，所述多个探测器像素中的每个包括整体像素边界(202、204、206、208)和所述整体像素边界内的直接转换活跃区。一种方法包括：利用包括整体像素边界的纳米材料探测器像素来接收辐射；利用所述探测器像素来生成指示接收到的辐射的能量的信号，同时降低像素信号串扰；并且重建所述信号以构建图像。一种成像系统(100)包括：X射线辐射的源，其被配置为发射穿过检查区域的X射线辐射；纳米材料成像探测器，其具有整体像素边界，其中，所述纳米材料成像探测器被配置为探测X射线辐射；以及重建器，其被配置为重建所述纳米材料成像探测器的输出以产生CT图像。

    基于量子点多孔硅膜的辐射探测器
    7.
    发明授权
    基于量子点多孔硅膜的辐射探测器 有权

    公开(公告)号：CN113874759B

    公开(公告)日：2024-10-29

    申请号：CN202080022566.8

    申请日：2020-03-16

    申请人： 皇家飞利浦有限公司 ,  韦恩州立大学

    发明人： M·A·查波 ,  S·L·布罗克

    IPC分类号： G01T1/20 ,  G01T1/24

    摘要： 一种用于辐射探测器(400)的探测层(416)包括多孔硅膜(418)。多孔硅膜包括：具有第一侧面(430)和第二相反侧面(432)的硅(419)；从第一侧面到第二相反侧面完全延伸穿过硅的多个孔(420)，每个孔包括共用的壁(426)；至少一个硅突出部(424)，其从第一侧面向外突出并延伸一定的距离(504，604，704)。多孔硅膜还包括位于孔内的多个辐射敏感量子点(422)和被设置在第一侧面上且具有表面(434)和厚度(506，606，706)的量子点层，其中厚度大于距离。

    具有改进的空间准确度的成像探测器
    8.
    发明公开
    具有改进的空间准确度的成像探测器 有权

    公开(公告)号：CN107923983A

    公开(公告)日：2018-04-17

    申请号：CN201680046427.2

    申请日：2016-07-28

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： M·A·查波

    IPC分类号： G01T1/17 ,  H04N5/32

    CPC分类号： G01T1/17 ,  H03M1/145 ,  H03M1/466 ,  H03M1/60 ,  H04N5/32

    摘要： 一种成像系统(100)的探测器阵列(112)，包括：辐射敏感探测器(202/204/206)，其被配置为探测辐射并且生成指示其的信号；以及与辐射敏感探测器电通信的电子器件(208)。所述电子器件包括电流-频率转换器(300)，所述电流-频率转换器被配置为将所述信号转换成具有指示在积分时段期间收集的电荷的频率的脉冲串。所述电子器件还包括电耦合到电流-频率转换器的剩余电荷收集电路(322)。剩余电荷收集电路被配置为利用已经在电流-频率转换器电子器件中的电子器件中的很多来存储针对不会产生脉冲串的脉冲的积分时段的结束部分由积分器所收集的电荷。

    对象支撑体的直接加速度测量
    10.
    发明公开
    对象支撑体的直接加速度测量 有权

    公开(公告)号：CN107920795A

    公开(公告)日：2018-04-17

    申请号：CN201680047547.4

    申请日：2016-08-01

    申请人： 皇家飞利浦有限公司

    发明人： D·D·贾金斯 ,  M·A·查波

    IPC分类号： A61B6/04 ,  A61B6/00

    CPC分类号： A61B6/5276 ,  A61B6/0457 ,  A61B6/586

    摘要： 一种对象支撑体(12)包括固定部分(22)和可移动部分(11)，所述可移动部分被耦合到所述固定部分并且被配置为相对于所述固定部分(22)沿着至少一个轴移动，并且所述耦合包括一个或多个摩擦点(32)，所述一个或多个摩擦点在所述可移动部分(11)的移动期间移动并且至少由于所述可移动部分(11)的移动而磨损。所述可移动部分(11)在利用成像设备(18)的成像流程期间接收并支撑目标或对象中的至少一个。一个或多个惯性测量单元(IMU)(50)被固定道或嵌入在所述可移动部分(11)中，其直接测量所述可移动部分(11)沿着一个或多个轴的平移的加速度。