公开(公告)号：CN110636796B

公开(公告)日：2023-09-29

申请号：CN201880033090.0

申请日：2018-04-17

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： A·亚罗申科 ,  H-I·马克 ,  T·克勒 ,  F·德马尔科 ,  L·B·格罗曼 ,  K·维勒 ,  P·诺埃尔

IPC: A61B6/00 ,  G01V5/00

Abstract: 本发明涉及包括第一材料和第二材料的对象的X射线暗场成像中的射束硬化校正，第一和第二材料具有不同的射束硬化性质。由于X射线成像数据包括关于成像对象的内部结构的信息，因此这样的信息可以连同适当的校准数据一起用于识别在对象的成像区中发生的射束硬化贡献，从而允许对由于X射线暗场成像中的射束硬化的伪影的校正。

公开(公告)号：CN111107787B

公开(公告)日：2023-08-29

申请号：CN201880061786.4

申请日：2018-09-21

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： A·亚罗申科 ,  T·克勒 ,  P·B·T·诺埃尔 ,  F·德马尔科 ,  L·B·格罗曼 ,  K·维勒

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明涉及获取用于X射线相衬成像和/或X射线暗场成像的参考扫描数据。因此，X射线探测器(26)在X射线源(12)与X射线探测器之间布置光栅布置(18)的情况下跨检查区域(30)与X射线源(12)相对地布置。在没有对象处在检查区域(30)中的成像操作期间，光栅布置(18)在扫描运动中被移动到相对于X射线探测器(26)的多个不同位置(α)，同时X射线探测器(26)相对于检查区域(30)保持固定，使得在扫描运动中由X射线探测器(26)探测一系列条纹图案。针对不同系列条纹图案来重复所述扫描运动。这允许以较少的扫描运动来获取用于校准X射线成像设备(10”')所需的参考扫描数据。

公开(公告)号：CN111107787A

公开(公告)日：2020-05-05

申请号：CN201880061786.4

申请日：2018-09-21

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： A·亚罗申科 ,  T·克勒 ,  P·B·T·诺埃尔 ,  F·德马尔科 ,  L·B·格罗曼 ,  K·维勒

IPC: A61B6/00

Abstract: 本发明涉及获取用于X射线相衬成像和/或X射线暗场成像的参考扫描数据。因此，X射线探测器(26)在X射线源(12)与X射线探测器之间布置光栅布置(18)的情况下跨检查区域(30)与X射线源(12)相对地布置。在没有对象处在检查区域(30)中的成像操作期间，光栅布置(18)在扫描运动中被移动到相对于X射线探测器(26)的多个不同位置(α)，同时X射线探测器(26)相对于检查区域(30)保持固定，使得在扫描运动中由X射线探测器(26)探测一系列条纹图案。针对不同系列条纹图案来重复所述扫描运动。这允许以较少的扫描运动来获取用于校准X射线成像设备(10”')所需的参考扫描数据。

公开(公告)号：CN110636796A

公开(公告)日：2019-12-31

申请号：CN201880033090.0

申请日：2018-04-17

Applicant: 皇家飞利浦有限公司

Inventor： A·亚罗申科 ,  H-I·马克 ,  T·克勒 ,  F·德马尔科 ,  L·B·格罗曼 ,  K·维勒 ,  P·诺埃尔

IPC: A61B6/00 ,  G01V5/00

Abstract: 本发明涉及包括第一材料和第二材料的对象的X射线暗场成像中的射束硬化校正，第一和第二材料具有不同的射束硬化性质。由于X射线成像数据包括关于成像对象的内部结构的信息，因此这样的信息可以连同适当的校准数据一起用于识别在对象的成像区中发生的射束硬化贡献，从而允许对由于X射线暗场成像中的射束硬化的伪影的校正。