X射线成像参考扫描
    3.
    发明授权

    公开(公告)号:CN111107787B

    公开(公告)日:2023-08-29

    申请号:CN201880061786.4

    申请日:2018-09-21

    Abstract: 本发明涉及获取用于X射线相衬成像和/或X射线暗场成像的参考扫描数据。因此,X射线探测器(26)在X射线源(12)与X射线探测器之间布置光栅布置(18)的情况下跨检查区域(30)与X射线源(12)相对地布置。在没有对象处在检查区域(30)中的成像操作期间,光栅布置(18)在扫描运动中被移动到相对于X射线探测器(26)的多个不同位置(α),同时X射线探测器(26)相对于检查区域(30)保持固定,使得在扫描运动中由X射线探测器(26)探测一系列条纹图案。针对不同系列条纹图案来重复所述扫描运动。这允许以较少的扫描运动来获取用于校准X射线成像设备(10”')所需的参考扫描数据。

    X射线成像参考扫描
    4.
    发明公开

    公开(公告)号:CN111107787A

    公开(公告)日:2020-05-05

    申请号:CN201880061786.4

    申请日:2018-09-21

    Abstract: 本发明涉及获取用于X射线相衬成像和/或X射线暗场成像的参考扫描数据。因此,X射线探测器(26)在X射线源(12)与X射线探测器之间布置光栅布置(18)的情况下跨检查区域(30)与X射线源(12)相对地布置。在没有对象处在检查区域(30)中的成像操作期间,光栅布置(18)在扫描运动中被移动到相对于X射线探测器(26)的多个不同位置(α),同时X射线探测器(26)相对于检查区域(30)保持固定,使得在扫描运动中由X射线探测器(26)探测一系列条纹图案。针对不同系列条纹图案来重复所述扫描运动。这允许以较少的扫描运动来获取用于校准X射线成像设备(10”')所需的参考扫描数据。

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