用于表征闪烁体材料的表征装置

    公开(公告)号:CN107209275A

    公开(公告)日:2017-09-26

    申请号:CN201580040855.X

    申请日:2015-07-10

    Abstract: 本发明涉及一种用于表征特别是用于PET探测器的闪烁体材料(3)的表征装置(1)。第一辐射源(2)利用具有小于450nm的波长的第一辐射(4)来辐照所述闪烁体材料。然后,第二辐射源(5)利用具有大于600nm的波长并且具有等于或小于50s的脉冲持续时间的脉冲第二辐射(6)来辐照所述闪烁体材料,其中,在由所述第二辐射进行的所述辐照期间和/或之后,探测设备(9)探测来自所述闪烁体材料(3)的第三辐射(12)。所述第三辐射取决于在所述闪烁体材料的电子缺陷处捕获的电荷载体的量,使得其能够被用作针对电子缺陷的量的指示物,并且因此能够被用于表征所述闪烁体材料。所述表征能够以相对快速且相对简单的方式被执行。

    用于超细颗粒尺寸检测的激光传感器

    公开(公告)号:CN108780030A

    公开(公告)日:2018-11-09

    申请号:CN201780019037.0

    申请日:2017-03-21

    Abstract: 本发明描述了一种用于检测超细颗粒(10)的激光传感器模块(100),所述超细颗粒具有300nm或更小、更优选200nm或更小、最优选100nm或更小的颗粒尺寸,所述激光传感器模块(100)包括:-至少一个激光器(110),其适于对由至少一个电驱动器(130)提供的信号做出反应而将激光发射到至少一个聚焦区域;-至少一个检测器(120),其适于确定所述至少一个激光器(110)的激光腔内的光波的自混合干涉信号,其中,所述自混合干涉信号是由重新进入所述激光腔的反射激光引起的,所述反射激光是由接收所述激光的至少部分的颗粒反射的;-所述激光传感器模块(100)被布置为执行至少一次自混合干涉测量;-所述激光传感器模块(100)适于借助于基于所述至少一次自混合干涉测量而确定的至少一个测量结果来确定具有第一灵敏度的第一颗粒尺寸分布,所述激光传感器模块还适于确定具有第二灵敏度的第二颗粒尺寸分布函数,所述第二灵敏度不同于所述第一灵敏度;-至少一个评价器(140),其适于通过从所述第一颗粒尺寸分布函数中减去与校准因子q相乘的所述第二颗粒尺寸分布函数来确定300nm或更小的颗粒尺寸的颗粒度量。本发明还描述了对应的方法和计算机程序产品。本发明实现了能够检测具有100nm或者甚至更小的尺寸的颗粒的、基于激光自混合干涉的简单并且低成本的颗粒检测模块或颗粒检测器。

    用于探测辐射的探测装置

    公开(公告)号:CN103988095B

    公开(公告)日:2018-04-06

    申请号:CN201280059842.3

    申请日:2012-11-23

    CPC classification number: G01T1/2002 G01N23/04 G01T1/2006 G01T1/2018 G01T1/202

    Abstract: 本发明涉及一种用于探测辐射的探测装置。所述探测装置包括:GOS材料(20),其用于根据探测到的辐射(25)来生成闪烁光;光学滤波器(24),其用于降低闪烁光的具有大于650nm波长的一部分的强度;以及,探测单元(21),其用于探测经滤波的闪烁光。由于滤波过程,闪烁光的相对较慢的分量,即,对应于相对较大的衰减时间的分量,对探测过程贡献微弱或根本不被探测单元探测到,从而提高探测装置的时间分辨率。得到的快速探测装置能够适合于kVp切换计算机断层摄影系统。

    直接转换辐射探测器
    10.
    发明公开

    公开(公告)号:CN106716178A

    公开(公告)日:2017-05-24

    申请号:CN201680002587.7

    申请日:2016-06-28

    CPC classification number: G01T1/241 G01T1/24 G01T1/202 G01T1/2985

    Abstract: 本发明涉及一种直接转换辐射探测器,其中,直接转换材料包括石榴石,其具有Z3(AlxGay)5O12:Ce的组成,其中,Z为Lu、Gd、Y、Tb或者其组合,并且其中,y等于或大于x;并且优选Z包括Gd。合适的石榴石将诸如X射线或伽马射线的辐射直接转换成电子信号。优选地,所述石榴石的光致发光为低或不存在的。所述探测器尤其适合用于在诸如计算机断层摄影的X射线成像设备中使用。在一些实施例中,石榴石的光致发光可以用于构建混合直接‑间接转换探测器,其可能尤其适合用于与飞行时间PET一起使用。

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