测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质

    公开(公告)号:CN111782497B

    公开(公告)日:2023-08-11

    申请号:CN202010623973.6

    申请日:2020-06-30

    Inventor: 孔军 王超 廖伟达

    Abstract: 本申请公开了一种测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质。涉及数据采集及用户行为分析技术领域和云计算及云平台技术领域。具体实现方案为:接收针对目标对象的测试请求,所述测试请求包括第一测试的测试条件;在测试流量层中选择符合所述第一测试的测试条件的目标用户,其中,所述测试流量层中存在正在进行的在先测试,且所述目标用户为所述在先测试未命中的用户;利用所述目标用户对所述目标对象执行所述第一测试。根据本申请的技术提高了测试的效率。

    测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质

    公开(公告)号:CN111782497A

    公开(公告)日:2020-10-16

    申请号:CN202010623973.6

    申请日:2020-06-30

    Inventor: 孔军 王超 廖伟达

    Abstract: 本申请公开了一种测试方法、测试装置、电子设备和可读存储介质。涉及数据采集及用户行为分析技术领域和云计算及云平台技术领域。具体实现方案为:接收针对目标对象的测试请求,所述测试请求包括第一测试的测试条件;在测试流量层中选择符合所述第一测试的测试条件的目标用户,其中,所述测试流量层中存在正在进行的在先测试,且所述目标用户为所述在先测试未命中的用户;利用所述目标用户对所述目标对象执行所述第一测试。根据本申请的技术提高了测试的效率。

Patent Agency Ranking