公开(公告)号：CN101472841B

公开(公告)日：2012-05-02

申请号：CN200780022680.5

申请日：2007-05-11

Applicant: 电气化学工业株式会社

Inventor： 西泰久 ,  福田贵史

IPC: H01L23/29 ,  C01B33/18 ,  C08K3/36 ,  H01L23/31

CPC classification number: C08K3/36 ,  C01B33/126 ,  C04B35/14 ,  C04B2235/5436 ,  C04B2235/5472 ,  H01L23/295 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/3011 ,  Y10T428/2982 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种陶瓷粉末，该粉末通常配合于橡胶或树脂等来制备用于半导体密封材料等的狭缝填充性及成形性优异的组合物。对该陶瓷粉末而言，用激光衍射-散射式粒度分布测定仪测定的粒度中，具有至少有两个峰的多峰性的频度粒度分布，第一峰的最大粒径在12～30μm范围内、第二峰的最大粒径在2～7μm范围内，其中，超过7μm至12μm的粒子的含有率为18质量％以下(包括0％)，第二峰的最大粒径的频度值F2和第一峰的最大粒径的频度值F1的比值(F2/F1)为0.5～1.3。

公开(公告)号：CN101472841A

公开(公告)日：2009-07-01

申请号：CN200780022680.5

申请日：2007-05-11

Applicant: 电气化学工业株式会社

Inventor： 西泰久 ,  福田贵史

IPC: C01B33/18 ,  C08K3/36 ,  H01L23/29 ,  H01L23/31

CPC classification number: C08K3/36 ,  C01B33/126 ,  C04B35/14 ,  C04B2235/5436 ,  C04B2235/5472 ,  H01L23/295 ,  H01L2924/0002 ,  H01L2924/3011 ,  Y10T428/2982 ,  H01L2924/00

Abstract: 本发明提供一种陶瓷粉末，该粉末通常配合于橡胶或树脂等来制备用于半导体密封材料等的狭缝填充性及成形性优异的组合物。对该陶瓷粉末而言，用激光衍射－散射式粒度分布测定仪测定的粒度中，具有至少有两个峰的多峰性的频度粒度分布，第一峰的最大粒径在12～30μm范围内、第二峰的最大粒径在2～7μm范围内，其中，超过7μm至12μm的粒子的含有率为18质量％以下(包括0％)，第二峰的最大粒径的频度值F2和第一峰的最大粒径的频度值F1的比值(F2/F1)为0.5～1.3。