公开(公告)号：CN101563291B

公开(公告)日：2011-06-22

申请号：CN200780046589.7

申请日：2007-12-21

Applicant: 电气化学工业株式会社

Inventor： 西泰久 ,  梅崎亨

IPC: C01B33/18 ,  C01B33/12 ,  C08K3/36 ,  C08L101/00

CPC classification number: C01B33/12 ,  C08L21/00 ,  C08L63/00 ,  H01L23/295 ,  H01L2924/0002 ,  H05K1/0373 ,  H01L2924/00

Abstract: 提供提高了HTSL特性及HTOL特性的适于半导体密封材料用的无定形二氧化硅粉末、其制造方法。无定形二氧化硅粉末，其特征在于，所述无定形二氧化硅粉末中采用原子吸收分光光度法测得的Al含量以Al2O3换算为0.03～20质量％，无定形二氧化硅粉末的平均粒径为50μm以下，而且，根据平均粒径将该无定形二氧化硅粉末分为两种粉末时，与粒径大于平均粒径的粉末相比，粒径小于平均粒径的粉末的Al2O3换算含有率更大。

公开(公告)号：CN101563291A

公开(公告)日：2009-10-21

申请号：CN200780046589.7

申请日：2007-12-21

Applicant: 电气化学工业株式会社

Inventor： 西泰久 ,  梅崎亨

IPC: C01B33/18 ,  C01B33/12 ,  C08K3/36 ,  C08L101/00

CPC classification number: C01B33/12 ,  C08L21/00 ,  C08L63/00 ,  H01L23/295 ,  H01L2924/0002 ,  H05K1/0373 ,  H01L2924/00

Abstract: 提供提高了HTSL特性及HTOL特性的适于半导体密封材料用的无定形二氧化硅粉末、其制造方法。无定形二氧化硅粉末，其特征在于，所述无定形二氧化硅粉末中采用原子吸收分光光度法测得的Al含量以Al2O3换算为0.03～20质量％，无定形二氧化硅粉末的平均粒径为50μm以下，而且，根据平均粒径将该无定形二氧化硅粉末分为两种粉末时，与粒径大于平均粒径的粉末相比，粒径小于平均粒径的粉末的Al2O3换算含有率更大。