公开(公告)号：CN101295008B

公开(公告)日：2010-06-23

申请号：CN200810044739.7

申请日：2008-06-19

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 蒋荣华 ,  田书林 ,  龙兵

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种基于离散粒子群算法的多目标故障测试优化方法，将故障检测率和故障隔离率为100％作为首要目标，并作为粒子适应度函数，用离散粒子群算法对测试点进行优化。引入精英集Xlen1，存放满足首要目标的多个优化结果，后续目标隐藏故障和掩盖故障，在精英集Xlen1内进行优化，其结果为全局最优测试集Xlen2。再在全局最优测试集Xlen2的基础上，找出满足测试电数目最少及测试代价最小故障测试目标的测试集Xlen3，则测试集Xlen3满足故障检测率和故障隔离率为100％、隐藏故障和掩盖故障平均数目最少以及测试点数目最少及测试代价最小的多目标故障测试，达到了故障测试多目标优化的目的。

公开(公告)号：CN101295008A

公开(公告)日：2008-10-29

申请号：CN200810044739.7

申请日：2008-06-19

Applicant: 电子科技大学

Inventor： 蒋荣华 ,  田书林 ,  龙兵

IPC: G01R31/28

Abstract: 本发明公开了一种基于离散粒子群算法的多目标故障测试优化方法，将故障检测率和故障隔离率为100％作为首要目标，并作为粒子适应度函数，用离散粒子群算法对测试点进行优化。引入精英集Xlen1，存放满足首要目标的多个优化结果，后续目标隐藏故障和掩盖故障，在精英集Xlen1内进行优化，其结果为全局最优测试集Xlen2。再在全局最优测试集Xlen2的基础上，找出满足测试电数目最少及测试代价最小故障测试目标的测试集Xlen3，则测试集Xlen3满足故障检测率和故障隔离率为100％、隐藏故障和掩盖故障平均数目最少以及测试点数目最少及测试代价最小的多目标故障测试，达到了故障测试多目标优化的目的。