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公开(公告)号：CN111462011B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202010250993.3
申请日：2020-04-01
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种去除红外偏振角图像噪声的方法，包括以下步骤：获取目标的红外偏振信息；对S1进行帧间降噪处理生成S1_p1(i,j,k)；对S2进行帧间降噪处理生成S2_p1(i,j,k)；对S1_p1(i,j,k)进行条件滤波生成S1_p2(i,j,k)；对S2_p1(i,j,k)进行条件滤波生成S2_p2(i,j,k)；根据S1_p2(i,j,k)和S2_p2(i,j,k)生成AOP偏振角图像。本发明还公开了一种去除红外偏振角图像噪声的系统。本发明一种去除红外偏振角图像噪声的方法及系统，对S1和S2图像进行处理，使得AOP图像噪声明显减少，成像质量大大提升，并保留了较多的图像原来的细节信息，使得AOP偏振角图像能够展现出更多的目标信息，提高了对目标的识别与追踪能力，提升了红外偏振探测系统的性能。
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公开(公告)号：CN114066759A
公开(公告)日：2022-02-18
申请号：CN202111368470.X
申请日：2021-11-18
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的红外图像实时畸变校正方法和系统，方法包括对目标进行红外成像数据采集，得到原始红外畸变图像数据；根据所选红外成像镜头，从预先存储的多组红外成像镜头的畸变校正参数对应的去畸变反向映射地址数据中获取该红外成像镜头对应的畸变校正参数；对所述原始红外畸变图像数据进行滤波和帧间降噪处理；根据获取的畸变校正参数，对经过滤波和帧间降噪处理后的红外图像数据进行图像校正。本发明既提高了同一红外图像畸变校正系统的复用性，又保证了红外图像畸变校正效果。
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公开(公告)号：CN111462011A
公开(公告)日：2020-07-28
申请号：CN202010250993.3
申请日：2020-04-01
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种去除红外偏振角图像噪声的方法，包括以下步骤：获取目标的红外偏振信息；对S1进行帧间降噪处理生成S1_p1(i,j,k)；对S2进行帧间降噪处理生成S2_p1(i,j,k)；对S1_p1(i,j,k)进行条件滤波生成S1_p2(i,j,k)；对S2_p1(i,j,k)进行条件滤波生成S2_p2(i,j,k)；根据S1_p2(i,j,k)和S2_p2(i,j,k)生成AOP偏振角图像。本发明还公开了一种去除红外偏振角图像噪声的系统。本发明一种去除红外偏振角图像噪声的方法及系统，对S1和S2图像进行处理，使得AOP图像噪声明显减少，成像质量大大提升，并保留了较多的图像原来的细节信息，使得AOP偏振角图像能够展现出更多的目标信息，提高了对目标的识别与追踪能力，提升了红外偏振探测系统的性能。
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公开(公告)号：CN114066759B
公开(公告)日：2023-08-01
申请号：CN202111368470.X
申请日：2021-11-18
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于FPGA的红外图像实时畸变校正方法和系统，方法包括对目标进行红外成像数据采集，得到原始红外畸变图像数据；根据所选红外成像镜头，从预先存储的多组红外成像镜头的畸变校正参数对应的去畸变反向映射地址数据中获取该红外成像镜头对应的畸变校正参数；对所述原始红外畸变图像数据进行滤波和帧间降噪处理；根据获取的畸变校正参数，对经过滤波和帧间降噪处理后的红外图像数据进行图像校正。本发明既提高了同一红外图像畸变校正系统的复用性，又保证了红外图像畸变校正效果。
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公开(公告)号：CN115809972A
公开(公告)日：2023-03-17
申请号：CN202211466463.8
申请日：2022-11-22
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种高反射率零件图像的自适应耀光抑制方法，涉及智能制造和数字图像处理技术领域，旨在解决多次不同角度的采集会导致采集信息冗余，增加后端信息存储、处理难度，提高信息处理成本，降低生产效率的技术问题，采用的技术方案是，采集高反射率零件图片；求得自适应分隔因子；将原始图像分割成图像块，并求得图像块的均值与原始图像均值的差值；制得背景矩阵；将背景矩阵插值为矩阵；原始图像减去插值后的图像即为耀光抑制后的图像；将高反射率零件的图像采集由传统的多角度拍照和多角度打光抑制耀光方式转变为通过图像处理算法抑制耀光，减少了采集系统的自动化流程节拍，降低了后端信息存储冗余、提高信息处理效率。
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Patent Agency Ranking
公开(公告)号：CN112710397A
公开(公告)日：2021-04-27
申请号：CN202011483132.6
申请日：2020-12-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种基于温度替代的两点校正方法及系统，在镜头外面放置一个和镜头温度相关的黑体，将第一黑体设置在所述红外热像仪的镜头前，采集所述第一黑体的灰度值；所述第一黑体的温度等于所述镜头温度；将第二黑体设置在所述红外热像仪的镜头前，采集所述第二黑体的灰度值；所述第二黑体的温度高于所述镜头温度，通过和温度相关的黑体计算得到的两个校正参数适用性强，排除了因温度变化引起的图像质量恶化的问题，极大地消除了因非均匀性带来的锅盖现象，从而精准的计算出校正后的灰度值。
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公开(公告)号：CN111724301B
公开(公告)日：2023-05-12
申请号：CN202010565289.7
申请日：2020-06-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于直方图统计的自适应拉伸方法及系统，本发明的方法包括：步骤一、读取原始图像的灰度直方图；步骤二、通过对原始图像的灰度直方图进行统计，确定有效灰度范围为[Cmin，Cmax]；步骤三、以(Cmin+Cmax)/2为直方图拉伸的中心坐标，将有效灰度范围进行拉伸并获取拉伸后的灰度值上下界；步骤四、按照步骤二得到的中心坐标点和步骤三获得的灰度值上下界，将原始图像的灰度直方图由中心坐标点向上下界坐标位置进行拉伸，得到原始图像的拉伸灰度直方图。本发明通过对直方图中的统计数据加以处理，滤掉直方图中数据特征特别少的灰度部分，将有效灰度数据在特定的范围进行拉伸，优化了传统直方图拉伸中可能带来的噪声干扰。
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公开(公告)号：CN114686806A
公开(公告)日：2022-07-01
申请号：CN202210325722.9
申请日：2022-03-30
Applicant: 电子科技大学
IPC: C23C14/02 , C23C14/06 , C23C14/35 , H01L31/0236 , H01L31/028 , H01L31/18
Abstract: 本发明公开了一种高吸收、宽光谱黑硅复合材料及其制备方法。包括对硅衬底进行黑硅化处理，得到黑硅，所述黑硅表面具有尖锥阵列；向黑硅表面溅射沉积TiN纳米颗粒。本发明利用“黑硅化”在传统硅表面形成均匀、大面积尖锥状黑硅结构；再利用“黑硅表面沉积TiN纳米颗粒”，使得黑硅表面微结构更加复杂，增加了光在黑硅尖锥间的反射次数，材料吸收率获得提升；同时通过磁控溅射，在尖锥状黑硅表面沉积TiN纳米颗粒，利用等离激元共振效应实现可见到红外波段光谱的拓宽。
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公开(公告)号：CN112710397B
公开(公告)日：2021-11-19
申请号：CN202011483132.6
申请日：2020-12-16
Applicant: 电子科技大学
IPC: G01J5/00
Abstract: 本发明涉及一种基于温度替代的两点校正方法及系统，在镜头外面放置一个和镜头温度相关的黑体，将第一黑体设置在所述红外热像仪的镜头前，采集所述第一黑体的灰度值；所述第一黑体的温度等于所述镜头温度；将第二黑体设置在所述红外热像仪的镜头前，采集所述第二黑体的灰度值；所述第二黑体的温度高于所述镜头温度，通过和温度相关的黑体计算得到的两个校正参数适用性强，排除了因温度变化引起的图像质量恶化的问题，极大地消除了因非均匀性带来的锅盖现象，从而精准的计算出校正后的灰度值。
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公开(公告)号：CN111724301A
公开(公告)日：2020-09-29
申请号：CN202010565289.7
申请日：2020-06-19
Applicant: 电子科技大学
Abstract: 本发明公开了一种基于直方图统计的自适应拉伸方法及系统，本发明的方法包括：步骤一、读取原始图像的灰度直方图；步骤二、通过对原始图像的灰度直方图进行统计，确定有效灰度范围为[Cmin，Cmax]；步骤三、以(Cmin+Cmax)/2为直方图拉伸的中心坐标，将有效灰度范围进行拉伸并获取拉伸后的灰度值上下界；步骤四、按照步骤二得到的中心坐标点和步骤三获得的灰度值上下界，将原始图像的灰度直方图由中心坐标点向上下界坐标位置进行拉伸，得到原始图像的拉伸灰度直方图。本发明通过对直方图中的统计数据加以处理，滤掉直方图中数据特征特别少的灰度部分，将有效灰度数据在特定的范围进行拉伸，优化了传统直方图拉伸中可能带来的噪声干扰。
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